EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Ли Морган (Lee Morgan)


Статьи этого автора


Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания
Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания

Номер журнала: КИПиС 2020 № 5

Лучшей отправной точкой для выяснения исходной причины появления битовых ошибок является анализ джиттера, но в некоторых случаях добраться до первопричины может помочь анализ сигналов схемы питания. Статья Ли Моргана (Компания Tektronix) «Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания» поможет Вам разобраться в битовых ошибках, рассмотрев эти два явления как во временной, так и в частотной областях.

 
Новый подход к частотному анализу в осциллографах
Новый подход к частотному анализу в осциллографах

Номер журнала: КИПиС 2019 № 5

Настоящая статья рассказывает о существенных усовершенствованиях архитектуры осциллографов, которые стали возможными благодаря новому микропрограммному обеспечению

 

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
03.12.1886
Родился шведский физик, лауреат Нобелевской премии
Карл Манне Георг Сигбан
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.