|
Питер Дж. Халберт (Peter J. Hulbert)
Питер Дж. Халберт работает инженером-разработчиком изделий и приложений компании Keithley Instruments, Inc. со штаб-квартирой в г. Кливленд, штат Огайо. Продукция Keithley Instruments является частью обширной линейки контрольно-измерительного оборудования компании Tektronix. Питер Дж. Халберт имеет степень бакалавра физики Вашингтонского государственного университета. Его работа в качестве специалиста по измерительным приборам сопровождается крупными исследованиями электромагнитного спектра – от ионизирующих излучений до инфракрасной и более низкочастотных областей.
Статьи этого автора
Принципы импульсного тестирования новых типов энергонезависимой памяти
Номер журнала: КИПиС 2014 № 1
Флэш-память на транзисторах с плавающим затвором впервые получила широкое распространение в 1990-х гг. и до недавнего времени вполне отвечала требованиям, предъявляемым к энергонезависимой памяти в таких устройствах, как цифровые камеры, MP3 плееры и смартфоны. Тем не менее, определенные ограничения, связанные с ее скоростью, износом, потребляемой мощностью и объемом, заставляли исследователей обращаться к новым технологиям энергонезависимой памяти, таким как память с фазовым переходом (PCM/PRAM), флэш-память с ловушками заряда (CTF/ SONOS), резистивная память (ReRAM), сегнетоэлектрическая память (FeRAM), магниторезистивная память (MRAM) и т.д.
|
|
| 
