EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Джонни Хэнкок (Johnnie Hancock)

Компания Agilent Technologies

Статьи этого автора


Измерение частотных характеристик источников питания с помощью осциллографа

Номер журнала: КИПиС 2015 № 6

Измерение характеристик импульсных источников питания и линейных преобразователей постоянного тока (DC-DC) требует выполнения разнообразных специальных измерений. Долгие годы разработчики источников питания выполняли эти измерения с помощью осциллографа вручную. Однако сегодня многие производители осциллографов предлагают лицензионные опции для измерения параметров источников питания, которые могут автоматически выполнять многие нужные измерения. Имея осциллограф с одной из таких опций, вы можете существенно сократить время тестирования и ускорить продвижение своих продуктов на рынок.

 
Скорость обновления сигналов на экране действительно имеет значение

Номер журнала: КИПиС 2012 № 6

Основной целью использования осциллографов в процессе исследований и разработок является тестирование и отладка новых устройств. Другими словами, необходимо найти и устранить нарушения целостности сигнала до отправки устройства заказчику. Самой сложной проблемой является обнаружение редких случайных аномалий сигнала. К сожалению, поиск редких событий, например, кратковременных импульсных помех (глитчей), зачастую похож на поиск иголки в стоге сена.

 
Осциллографы начального уровня и учебные материалы для электротехнических лабораторий ВУЗов

Номер журнала: КИПиС 2012 № 4

Фундаментальные аспекты практически всех современных учебных программ по электротехнике тесно связаны с лабораторными занятиями. Именно здесь студенты электротехнических специальностей воплощают теорию в практику. Контрольно-измерительное оборудование, используемое в таких лабораториях начального уровня, как правило, включает осциллографы, мультиметры, источники питания и генераторы сигналов стандартной формы, причем основным прибором, используемым студентами для наблюдения аналоговых и цифровых сигналов, обычно является осциллограф. И даже после окончания учебного заведения и прихода на работу в качестве проектировщиков электронного оборудования или производственных метрологов, они продолжают пользоваться осциллографом, который остается для них самым популярным прибором для тестирования разрабатываемых и готовых изделий.

 
Требования, предъявляемые разработчиками FlexRay к осциллографам

Номер журнала: КИПиС 2008 № 1

FlexRay представляет собой высокопроизводительную, синхронизируемую по времени и детерминированную последовательную шину нового поколения, применяемую в автомобилях высшего класса для управления электронными системами, критичными к уровню безопасности. Прежде чем представить опцию FlexRay для осциллографов смешанного сигнала, компания Agilent провела широкий опрос заказчиков среди ведущих производителей и разработчиков встраиваемых устройств и программного обеспечения, уже работающих с технологией FlexRay. В статье рассматривается перечень требований разработчиков FlexRay к осциллографам.

 
Использование осциллографа смешанных сигналов для отладки устройств со смешанными сигналами на базе микроконтроллера

Номер журнала: КИПиС 2007 № 2

Обычно для тестирования и отладки систем смешанных сигналов на базе микроконтроллеров или цифровых процессоров сигналов инженеры используют осциллограф в связке с логическим анализатором. Однако использование осциллографов смешанных сигналов, по сравнению с таким подходом, обеспечивают ряд преимуществ. В данной статье рассмотрена типичная методология конфигурирования и отладки встроенных электронных устройств со смешанными сигналами на базе микроконтроллера.

 

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.