EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Статьи КИПиС


Автор(ы): Вэйн Ванденберг (Wayne Vandenberg) Номер журнала: КИПиС 2011 № 4

Для тестирования аппаратуры космических аппаратов требуется все более совершенное оборудование и процедуры. Имитаторы солнечных батарей — это специальные источники постоянного тока, способные моделировать динамичные ВАХ реальных солнечных батарей. Необходимо внимательно подойти к выбору имитаторов при покупке и интеграции их в систему, чтобы обеспечить защиту своих инвестиций в космические аппараты и наземное оборудование. В данной статье рассказывается об уникальных характеристиках, которыми следует руководствоваться при выборе ИСБ. Описаны характеристики солнечных батарей, методы имитации, используемые имитатором Agilent E4360, и аспекты системной интеграции.

Автор(ы): Афонская Т.Д., Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2011 № 4

В июне нам представилась возможность посетить главный офис компании Agilent Technologies, расположенный в Санта-Роза, Калифорния, США. Помимо административных зданий, там также расположены исследовательские лаборатории и производство некоторых видов продукции.

Автор(ы): Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2011 № 3 В данной статье рассматриваются возможности моделей функциональных генераторов АНР-1115, АНР-1150, АНР-1180 и АНР-1250.
Номер журнала: КИПиС 2011 № 3

С 19 по 21 апреля в МВЦ «Крокус Экспо» в Москве прошел крупнейший в России и Восточной Европе Международный форум электронной промышленности «ЭкспоЭлектроника». В статье рассказывается об итогах форума, приведены статистические показатели в цифрах.

Номер журнала: КИПиС 2011 № 3 Уже более шестидесяти лет компания Tektronix предлагает решения в области контрольно-измерительных и мониторинговых технологий для проектирования, повышения производительности и существенного сокращения времени выпуска изделий на рынок.
Автор(ы): Эндрю Шефер (Andrew Schaefer) Номер журнала: КИПиС 2011 № 3 Параметр эффективное число битов (ENOB — effective number of bits) служит для измерения качества аналого-цифрового преобразования. Чем выше значение ENOB, тем более точно воспроизводятся уровни напряжения, зарегистрированные при аналого-цифровом преобразовании. В данной статье показывается, каким образом параметр ENOB может быть измерен на примере цифровых осциллографов R&S® RTO.
Номер журнала: КИПиС 2011 № 3 Передача все больших объемов данных и стремительно растущие скорости передачи стимулируют рост быстродействия информационной инфраструктуры и ее отдельных компонентов. Сигналам приходится брать один барьер скорости за другим. В статье описаны функциональные возможности генераторов сигналов произвольной формы Agilent Technologies.
Автор(ы): Брянский Л.Н. Номер журнала: КИПиС 2011 № 3 Часто происходит смешение двух понятий: «поверка» и «проверка». Как известно, поверка — это определение значения погрешности средств измерений (СИ) и установление их соответствия метрологическим нормам, установленным при испытаниях на соответствие типу СИ, а проверка — это просто некая контрольная операция, цель которой установить наличие, исправность и т.п. В статье говорится об истории становления термина «поверка» в нашей стране и связанных с ним понятиях.
Номер журнала: КИПиС 2011 № 3

Ежегодное послание Директора МБМВ к Всемирному дню метрологии. В этом году тема мероприятия «Химические измерения — наша жизнь, наше будущее».

Номер журнала: КИПиС 2011 № 3

Традиционное послание Директора Международного Бюро законодательной метрологии (МБЗМ) Стефена Паторэй, вступившего в должность Директора с 1 января 2011 года, посвященное теме Всемирного дня метрологии 2011 – «Химические измерения в нашей жизни и в нашем будущем».



При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
16.11.1717
Родился французский ученый-энциклопедист, философ, математик и механик
Жан Лерон Д'Аламбер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.