 |
 |
|
 |
| EN |
|
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
Информация
|
Статьи КИПиС
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
Представляем читателям участников ежегодного конкурса нашего журнала. В этом номере представлены три отечественных разработки. Подробнее об участниках и победителях конкурса предыдущих лет можно узнать на нашем сайте в разделе "Конкурс".
Автор(ы):
Воллард Эндрю (Andrew Wallard)
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
Ежегодное обращение Профессора Эндрю Волларда, Директора МБМВ, посвященное Всемирному Деню Метрологии 2010.
Автор(ы):
Коптева Н.А.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
25 марта 2010 года в Академии народного хозяйства при Правительстве Российской Федерации состоялась Международная конференция «Техрегулирование 2012. Инструментарий формирования единого экономического пространства». Цель проведения конференции — содействие формированию Единого экономического пространства Республики Беларусь, Республики Казахстан и Российской Федерации, а также обмен опытом в интеграционных процессах по созданию общего экономического пространства в Европейском Союзе.
Автор(ы):
Афонская С.А.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
С 23 по 25 марта 2010 года в Лондоне состоялось одно из главных в мире IPTV событий — 6-ой Всемирный Форум IPTV. Форум посвящен последним технологическим разработкам в области Hybrid, IP & Connected TV. В данной статье рассказывается о новых тенденциях в мире HD и IPTV, а также приводится прогноз развития данного сегмента.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
Электронный рынок России, постепенно преодолевает последствия экономического спада и становится всё более привлекательным объектом для отечественных и зарубежных инвестиций. Международные выставки «ЭкспоЭлектроника» и «ЭлектронТехЭкспо» традиционно объединят лучший научный потенциал электронной отрасли, и наглядно отражают текущую ситуацию и тенденции развития производства электроники в нашей стране.
Автор(ы):
Брянский Л.Н.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
20 мая 2010 г. метрологи всего мира отмечают 135 годовщину подписания Метрической конвенции — первого межправительственного соглашения о научно-техническом сотрудничестве, заложившего фундамент единого международного метрологического пространства. Статья приурочена к Всемирному Дню Метрологии и рассказывает о некоторых интересных фактах касательно определения базовых метрических величин.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
До недавнего времени было трудно найти единообразную линейку совместимых между собой анализаторов сигналов, способных охватить весь жизненный цикл разрабатываемого продукта. Единая X-платформа анализаторов сигналов Agilent MXA, EXA, PXA и CXA делает возможным создание единообразной среды анализа сигнала: все приборы используют единую открытую архитектуру ПК, проверенные измерительные алгоритмы, полностью совместимый программный код и одинаковый интерфейс пользователя.
Автор(ы):
Афонский А.А., Суханов Е.В.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 2
С момента своего появления в 2005 году, стандарт LXI (LAN eXtensions for Instrumentation) находит все большее применение: тестирование электронной техники, автоматизированные измерительные комплексы, системы удаленного сбора данных и контроля производственным процессом, робототехника и многие другие. О возможностях развивающегося стандарта читайте в данной статье.
Автор(ы):
Афонская Т.Д., Афонский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 1
Во время своего первого визита в Россию, Президент компании Tektronix, Амир Агдаи (Amir Aghdaei), посетил офис нашего журнала. Нам удалось побеседовать с ним, а также с главой московского представительства Tektronix, Патрисом Жонасом (Patrice Jaunasse), о планах развития компании, финансовом кризисе и его влиянии на российский рынок измерительной аппаратуры.
Автор(ы):
Афонский А.А., Жуковский А.А.
Номер журнала:
КИПиС 2010 № 1
По мере совершенствования аппаратной части источников питания, совершенствуются и средства, используемые для организации связи с компьютером. АКТАКОМ представляет новое поколение приборов, поддерживающих LXI-стандарт. Отличительная особенность этих приборов - возможность удаленного управления через интерфейсы USB 1.1 и LAN.
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
28.12.1933
Родился российский математик, доктор физико-математических наук
|
