EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Разработка новых стандартных образцов поверхностной плотности

Разработка новых стандартных образцов поверхностной плотности

27.04.2021

В 2020 г. Уральским НИИ метрологии – филиалом ВНИИМ им. Д.И. Менделеева завершено испытания 11 новых типов стандартных образцов (СО) поверхностной плотности и толщины одно- и двухслойных покрытий. По итогам испытательных работ все образцы утверждены Росстандартом.

По сообщению лаборатории метрологии термометрии и поверхностной плотности УНИИМ, новые стандартные образцы предназначены для метрологического обеспечения работ с применением современных рентгенофлуоресцентных измерителей. Такие измерения востребованы, в частности, при производстве различной электроники, где необходимо контролировать показатели поверхностной плотности и толщины покрытий.

Новые стандартные образцы дают возможность обеспечивать точность работы измерительных устройств, аттестовать методики измерений поверхностной плотности и толщины гальванических покрытий, проводить межлабораторные сличительные испытания в этой области измерений.

Стандартные образцы представляют собой основания в виде диска из меди или стали, на которые нанесены золотое, кадмиевое, никелевое, оловянное, серебряное и цинковое покрытие с подслоем из никеля, серебра или меди. С основными метрологическими и техническими характеристиками СО можно ознакомиться в ФГИС «Аршин».

По материалам: Росстандарт
www.rst.gov.ru
Уральский НИИ метрологии – филиал ВНИИМ им. Д.И. Менделеева
www.uniim.ru



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик
Луи Эжен Феликс Неель
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.