EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Научно-практический семинар «Калибровка средств измерений в соответствии с требованиями стандарта ISO/IEC 17025-2017»

Научно-практический семинар «Калибровка средств измерений в соответствии с требованиями стандарта ISO/IEC 17025-2017»

06.03.2019

Семинар пройдет с 26 по 28 марта 2019 г. в Москве.

Место проведения: Конференц-центр гостиницы «Вега Измайлово»,
105613, Москва, Измайловское шоссе 71, 3В
ст. метро «Партизанская»
МЦК «Измайлово»

В программе семинара:

  • Определение понятия калибровки. Цели и задачи калибровки. Сферы распространения.
  • Нормативные документы, регламентирующие проведение калибровки. №102-ФЗ, ISO/IEC 17025-2017 «Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий», MRA.
  • Сравнительный анализ операций «поверка» и «калибровка».
  • Основные этапы калибровки.
  • Средства измерений, применяемые при калибровках и их метрологические характеристики. Формы представления калибровочных характеристик.
  • Методы калибровки и их выбор.
  • Базовый алгоритм оценивания неопределенности измерений при калибровках.
  • Основные характеристики СИ, влияющие на точность калибровки и вносимые ими неопределенности: инструментальная неопределенность эталонов, дополнительная погрешность эталонов за счет их нестабильности, изменения условий калибровки, влияния калибруемого СИ на эталон; наблюдаемый разброс показаний измерительного прибора, дискретность отсчета.
  • Обработка результатов и оценивание неопределенности измерений при калибровке различных СИ: мер, измерительных приборов, измерительных преобразователей.
  • Определение параметров калибровочной зависимости.
  • Оформление сертификатов калибровки.
  • Структура методики калибровки.
  • Этапы разработки методики калибровки.
  • Валидация методик калибровки. Оформление протокола валидации.
  • Использование результатов калибровки для оценки пригодности СИ.
  • Нахождение наименьшей неопределенности (наилучших калибровочных возможностей).
  • Примеры оценивания неопределенности при калибровке СИ различных величин.

Ознакомиться с условиями участия можно по данной ссылке.

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.