EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Обучение по программе «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов»

Обучение по программе «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов»

09.11.2019

Со 2 по 20 декабря 2019 г. в Академии стандартизации, метрологии и сертификации пройдет обучение по программе «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов».

Программа специализации «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов» предусматривает изучение вопросов обеспечения единства и качества оптико-физических и физико-химических измерений в области нанотехнологий, наноструктурированных материалов и изделий наноиндустрии, в том числе с учетом особенностей методик выполнения измерений, испытаний и оценке соответствия и безопасности продукции нанотехнологий.

Настоящая программа предназначена для повышения квалификации широкого круга специалистов, выполняющих работы по оценке и подтверждению соответствия продукции наноиндустрии с использованием современных оптико-физических и физико-химических методов и средств аналитического контроля.

В программе представлены практически все современные методы и средства аналитического контроля, используемые как в РФ так и за рубежом. Особое внимание уделяется проблемам подтверждения соответствия и безопасности продукции наноиндустрии.

При проведении практических занятий слушатели приобретают навыки эксплуатации, калибровки и поверки сложных автоматизированных средств измерения, изучают стандарты и методики проведения измерений, знакомятся с дополнительной методической литературой, приобретают навыки оформления документов.

Ознакомиться с условиями участия, а также подать заявку можно по данной ссылке.

www.asms.ru



Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.