Двухдневная международная конференция Agilent Technologies

20.09.2010

Компания Agilent Technologies 20 и 21 сентября 2010 г. проводит двухдневную пресс-конференцию, в Стамбуле (Турция). На пресс-конференцию приглашены 40 журналистов из Европы, в том числе 10 журналистов из России. Аналогичное мероприятие проходило 2 года назад в Риме (Италия), но на конференцию в 2008 году российских журналистов не приглашали.

На пресс-конференции будет представлена новая продукция компании, также будут представлены самые новые технические достижения в области контрольно-измерительного оборудования. Причем вся двухдневная работа конференции основана на возможности личного общения с руководством компании Agilent Technologies.

Среди участников пресс конференции:

Г-н Бенуа Нил (Benoit Neel) – Вице-президент и Генеральный менеджер по деятельности в европейском, средне-восточном и африканском регионах, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Бор-Чун Гуи (Bor Chun, Gooi) – Старший менеджер департамента приборов общего назначения, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Г-н Джей Александр (Jay Alexander) – Вице-президент и Генеральный менеджер подразделения цифровой осциллографии, Группа электронных измерений Agilent Technologies

Среди основных тем пресс-конференции следует выделить:

• Высококачественные осциллографы: навстречу новым горизонтам
• Почему и как применяются Х-параметры в тестировании РЧ элементов
• Последние изменения в разработке и отладке встраиваемых цифровых систем
• Новое поколение портативных тестеров
• Основные направления в тестировании оборудования беспроводных сетей

Большинство представляемых новинок должны стать достоянием общественности после 28 сентября, поэтому, мы представим эти новинки на страницах и на сайте нашего журнала в октябре – ноябре 2010 года.