|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
ВНИИМ посетила делегация NIM24.10.2015 1 октября 2015 г. в ФГУП «ВНИИМ им. Д.И.Менделеева» состоялся прием делегации Китайского национального института метрологии (NIM). Делегацию возглавлял директор NIM Фан Сян, которого сопровождали сотрудники NIM: руководитель отдела международного сотрудничества Гао Вэй, руководитель отдела механики и акустики Национального института метрологии Жан Юэ, заместитель руководителя отдела системы качества и метрологических услуг Жу Мэйна, заместитель руководителя отдела оптики Линь Яндон, и заместитель руководителя отдела научно-технического управления и международного сотрудничества Ван Ю. Со стороны ВНИИМ в приеме участвовали директор ВНИИМ Н. Ханов, заместитель директора по международным работам Ю. Кустиков, руководитель отдела международного сотрудничества и взаимного признания А. Дятлев, ученый секретарь Н. Звягин, а также руководители ряда отделов государственных эталонов В ходе визита делегации NIM во ВНИИМ обсуждались вопросы сотрудничества институтов в рамках подписанного в 2013 году Меморандума о взаимопонимании между NIM и ВНИИМ. Специалисты NIM были ознакомлены с работой отделов, а также посетили Метрологический музей Росстандарта. Помимо этого, делегации NIM были переданы для изучения предложения по темам сотрудничества, предполагающим заключение взаимовыгодных контрактов. Руководитель китайской делегации выразил руководству института глубокую благодарность за организацию и проведения приема и пригласила руководителей ВНИИМ нанести NIM ответный визит для подписания возможных соглашений. Источник: www.gost.ru
Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Технические регламенты
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|