|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"07.09.2014 11 сентября 2014 в Санкт-Петербурге пройдёт семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры". Место проведения семинара: г. Санкт-Петербург, КЦ "ПетроКонгресс", ул. Лодейнопольская, 5 (ст. метро "Чкаловская"). Схема проезда. План семинара: 10.00-11.30. Секция 1. Проблемы анализа отказов, подходы к решению.
a. Требования к анализу отказов КИ, основные проблемы анализа КИ
a. Место в структуре организации, подчиненность. Состав, требования к сотрудникам
a. Визуально-оптический метод. Тестовые методы, метод «прозвонки». Рентгеноскопический метод. Статистические методы. Прочие методы 11.30-12.00. Кофе-брейк 12.00-13.30. Секция 2. Практический опыт анализа качества и причин отказов КИ.
a. Отечественные и импортные комплектующие. Резисторы. Конденсаторы. Индуктивные элементы. Магнитные сердечники. Диоды. Транзисторы. Микросхемы. Коммутирующие устройства. Прочие комплектующие изделия и материалы.
a. Причины появления контрафактных комплектующих в закупках
13.30-14.30. Обед 14.30-16.30. Секция 3. Базы данных аналитической службы качества, информационные системы.
16.30-17.00. Кофе-брейк 17.00-18.00. Секция 4. Обработка и использование результатов анализа
a. Классификация отказов комплектующих
a. Основные требования к поставщикам КИ. Стандарт организации по закупкам
Для участия необходимо заполнить бланк заявки и направить его по адресу seminar@sovel.org. Задать вопросы можно по телефону (495)280-04-19. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|