![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
19.06.2021 | 654
Во ВНИИМ им. Д.И. Менделеева (организация Росстандарта) разработано метрологическое обеспечение измерений концентрации копий последовательностей ДНК и создан экспериментальный образец высокоточной измерительной установки.
13.06.2021 | 748
Научно-техническая конференция «Метрология физико-химических измерений» - это прекрасная возможность обмена информацией для тех, кто имеет отношение к физико-химическим измерениям в фундаментальной, прикладной и законодательной метрологии, возможность обсудить вместе проблемы и успехи в области физико-химических измерений.
Конференция пройдет с 14 по 16 сентября 2021 г. в Парк-отеле «Морозовка», расположенном недалеко от Москвы.
12.06.2021 | 660
УНИИМ – филиал ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» активно налаживает сотрудничество с коллегами из других стран СНГ. Примером можно считать совместную работу с предприятиями и организациями Казахстана в области метрологического обеспечения измерений крутящего момента силы.
11.06.2021 | 756
Во ВНИИМ им. Д. И. Менделеева завершено оснащение гравиметрического пункта «Ломоносов-2», который предполагается ввести в состав Государственного первичного специального эталона ускорения в гравиметрии.
В рамках совершенствования эталона предусмотрено введение в его состав дополнительных инфраструктурных объектов и комплекса измерительной аппаратуры.
10.06.2021 | 797
Ассоциация Разработчиков и Производителей Электроники приглашает принять участие в конференции «Лучшие практики контрактного производства электроники», которая пройдет 17 июня 2021 г. в Москве.
31.05.2021 | 645
Центр Современной Электроники и Ассоциация поставщиков электронных компонентов приглашаем принять участие в семинаре-презентации результатов исследования российского рынка электронных компонентов - 2021, который пройдет 9 июня 2021 года в Москве.
30.05.2021 | 814
С 07 по 10 июня 2021 г. Уральским федеральным университетом имени первого Президента России Б.Н. Ельцина (г. Екатеринбург) совместно с ФБУ «РОСТЕСТ-МОСКВА», компанией «Роде и Шварц РУС» и представительством компании Вюрт Электроник в России будет проведен курс повышения квалификации по теме «Электромагнитная совместимость устройств и систем. Испытания на соответствие требованиям по электромагнитной совместимости». Занятия будут проводиться ежедневно по адресу: г. Москва, Нахимовский проспект, 31 (07-09 июня) и Нахимовский проспект, 58 (10 июня).
29.05.2021 | 745
Практические вопросы, связанные с обновлением нормативно-правовой базы в обеспечении единства измерений, стали центральными на I Всероссийской конференции участников Государственной службы стандартных образцов состава и свойств веществ и материалов (ГССО). Её организаторами выступил ВНИИМ им. Д.И. Менделеева как научно-методический центра ГССО при поддержке Минпромторга России и Росстандарта.
28.05.2021 | 656
Во ВНИИМ им. Д.И. Менделеева завершен важный этап модернизации легендарного измерительного комплекса – государственного первичного эталона единиц потока и плотности потока нейтронов (ГЭТ 10-81). Учеными лаборатории государственных эталонов в области нейтронных измерений и спектрометрии ионизирующих излучений создан макет генератора моноэнергетических нейтронов оригинальной конструкции. Его испытания запланированы на начало осени.
26.05.2021 | 639
Специалисты Уральского НИИ метрологии – филиала ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» – проводят приготовления к очередным международным ключевым сличениям эталонов. Процедура, запланированная на период с 1 июня по 30 сентября 2021 года, пройдет с участием крупнейших в мире метрологических институтов, которые выступают держателями первичных эталонов для измерений на основе кулонометрии.
|
События из истории измерений
|