![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 831 - 840 из 1560
29.10.2016 | 1237
Сетевая система MetricsNet создается в интересах всех участников рынка контрольно-измерительного оборудования и объединит информацию профильных баз данных на платформе облачного сервера с функционалом мониторинга, ситуационного анализа и прогнозирования потребностей экономики и общества в измерениях.
28.10.2016 | 1443
ФБУ «Ростест-Москва» прошло аккредитацию в качестве Органа по сертификации в Национальной системе аккредитации по 25 техническим регламентам.
22.10.2016 | 1312
В сентябре 2016 года в г. Пусан (Республика Корея) состоялось очередное 6-е заседание ИСО/МЭК СТК 1/РГ 10 «Интернет вещей». В мероприятии приняли участие более 40 делегатов, представлявших 11 стран.
16.10.2016 | 1683
ФБУ «УРАЛТЕСТ» организует со 2 по 3 ноября 2016г. ежегодный семинар для руководителей и специалистов предприятий по вопросам обеспечения единства измерений при проектировании, модернизации и эксплуатации узлов учета природного газа. Мероприятие пройдёт в Екатеринбурге в ФБУ «УРАЛТЕСТ».
15.10.2016 | 1356
С 19 по 21 сентября 2016 г. в поселке Листвянка Иркутской области на берегу озера Байкал прошло 44-е заседание Научно-технической комиссии по метрологии (НТКМетр) и 18-е заседание Рабочей группы по неразрушающему контролю НТКМетр (РГ НК НТКМетр) Межгосударственного совета по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС) государств-участников СНГ.
15.10.2016 | 1106
Семинар пройдёт 19 октября в Москве. Основные вопросы семинара: развитие технологий цифровой обработки сигналов; обработка цифровых данных на ПЛИС; примеры построения систем обработки и другие темы.
09.10.2016 | 1289
Научные сотрудники национальных метрологических институтов стран-членов Международного метрологического комитета, обменялись информацией о состоянии и актуальных проблемах метрологической деятельности в области линейно-угловых измерений. Особое внимание было уделено вопросам применения современных технологий измерения длин и углов в научной и промышленной сферах.
Заседание Технического совета состоялось в период 14-15 сентября 2016 года, в г. Вильнюс, Литва. В его работе приняли участие 19 представителей из 10 стран – России, ближнего зарубежья и Европы.
08.10.2016 | 1264
Во ВНИИОФИ введен в эксплуатацию новый высоковакуумный технологический комплекс. Комплекс позволяет проводить исследование свойств и изготовление фотоэмитеров, эмиссионных усилителей тока, электронно-чувствительных матриц и других компонент вакуумных фотоэлектронных приборов. С его помощью можно осуществлять изготовление и сборку высокоскоростных электронно-оптических преобразователей с субпикосекундным временным разрешением.
04.10.2016 | 1265
Всесторонняя и комплексная поддержка молодых специалистов стала предметом обсуждения на очередном заседании Научно-технического совета ВНИИМС.
01.10.2016 | 1228
Высокоточные измерительные технологии ФГУП «ВНИИМС» применены в ходе разработки и освоения ультрапрецизионных стабилитронов класса точности 0,0001%, использование которых позволяет существенно улучшить параметры управления космическими аппаратами нового поколения.
Новости 831 - 840 из 1560
|
События из истории измерений
|