![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 271 - 280 из 1560
29.03.2020 | 775
Измерения геометрических параметров резьбовых соединений очень востребованы в нефтегазовой промышленности, потому что от их точности зависит безопасность работ при бурении, оборудовании и эксплуатации глубоких скважин...
20.03.2020 | 748
26 марта 2020 года в Москве пройдет конференция «Системы-в-корпусе: проектирование и производство». Участники конференции: разработчики микросхем, систем-на-кристалле, разработчики электронного оборудования, технологи и директора производств, поставщики технологического оборудования, САПР, производственных услуг.
18.03.2020 | 754
Ученые УНИИМ – филиала ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева», г. Екатеринбург – разработали две новые первичные референтные методики измерений магнитных свойств магнитотвердых материалов на основе сплава самарий-кобальт (SmCo) и на основе сплава неодим-железо-бор (NdFeB). Методики уже утверждены приказами Росстандарта от 27 декабря 2019 г. Данные методики чрезвычайно важны для метрологического обеспечения производства высокотехнологичной и наукоемкой продукции, содержащей постоянные магниты.
15.03.2020 | 977
Конференция пройдет с 27 по 29 мая 2020 года в Перми и представляет собой единственное мероприятие, объединяющее практиков и теоретиков, работающих в области исследования обратного рассеяния в различных средах, оптических волокнах, интегрально-оптических и объемных элементах.
14.03.2020 | 870
ЦИТМ Экспонента и МГТУ им. Баумана приглашают специалистов и руководителей инженерных подразделений наукоемких производств принять участие в ежегодной двухдневной конференции «Технологии разработки и отладки сложных технических систем», которая пройдет 1 и 2 апреля 2020 г. в Большом Зале Дома Культуры МГТУ им. Баумана (г. Москва).
13.03.2020 | 1069
Семинар пройдет с 24 по 26 марта 2020 г. в Москве. В программе семинара: Введение в неопределенность измерений; Базовый алгоритм оценивания неопределенности в измерениях в соответствии с «Руководством по выражению неопределенности в измерениях» (ГОСТ Р 54500.3-2011); Оценивание неопределенности при калибровках (Руководство ЕА-4/02, РМГ 115-2011); и другие вопросы.
12.03.2020 | 792
Ученые УНИИМ – филиала ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» разработали Государственную первичную референтную методику измерений массовой доли газообразующих элементов (азот, кислород, водород) в чистых металлах.
11.03.2020 | 936
В апреле этого года во ФГУП «ВНИИФТРИ» пройдут курсы повышения квалификации для метрологов по программе «Аттестация испытательного оборудования».
07.03.2020 | 761
Обещающая программа пройдет с 6 по 24 апреля 2020 г. в Москве в Академии стандартизации, метрологии и сертификации. К участию приглашаются инженерно-технические работники и специалисты учреждений и предприятий наноиндустрии, специалисты ЦСМ, ЦГСЭН, специализированных лабораторий, специалисты фирм, занимающихся производством и продажей современных аналитических средств измерения.
05.03.2020 | 721
В конце февраля 2020 г. ФГУП «ВНИИФТРИ» с рабочим визитом посетили директор Международного бюро мер и весов (МБМВ) г-н Мартин Милтон и директор Отделения времени МБМВ г-жа Патриция Тавелла. Первые лица Международного бюро мер и весов не только смогли ознакомиться с новейшими достижениями института в области разработки стандартов частоты и новыми средствами передачи единиц времени и частоты, но и посетить специальный научный комплекс, где хранится Государственный первичный эталон единиц времени, частоты и национальной шкалы времени ГЭТ 1.
Новости 271 - 280 из 1560
|
События из истории измерений
|