EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости КИПиС

RSS

12.03.2011 | 3221
Технический визит на производство ОАО «НИИМЭ и Микрон» 7 апреля В рамках деловой программы специализированной выставки «Электроника-Транспорт 2011»,  ОАО «НИИМЭ и Микрон» организует технический визит на предприятие во второй день выставки. Участие бесплатное, необходима предварительная регистрация.  
05.03.2011 | 5883
Правительство России внесло на рассмотрение законопроект «Об исчислении времени» Новый законопроект, регламентирующий порядок исчисления календарной даты и времени дня, а также порядок распространения информации об их точном значении, призван заменить устаревшие документы, принятые еще до утверждения Конституции Российской Федерации 12 декабря 1993 г.
01.03.2011 | 3036
Выставка electronica & Productronica China отмечают свое 10-летие в качестве ведущей демонстрационной площадки для электронной индустрии Китая В этом году выставка займет 23000 кв.м. выставочной площади и представит 460 участников. Главной темой конференции в этом году станет электроника для автомобильной и энергетической промышленности. Мероприятие пройдет с 15 по 17 марта 2011 г. в Китае, г.Шанхай.
28.01.2011 | 10017
Tektronix провела демонстрацию нового анализатора спектра реального времени Сегодня, 28 января 2011 года, Tektronix провела презентацию анализаторов спектра реального времени нового поколения RSA5000. Презентацию провел Ёрн Хопфнер (Joern Hoepfner), ведущий специалист в области РЧ оборудования в Европе.
28.01.2011 | 7725
Новый директор возглавит Международное бюро мер и весов С 1 января 2011 года, профессор Майкл Кюне (Michael Kühne) вступил в должность директора МБМВ. После своей отставки, профессор Эндрю Уоллард (Andrew Wallard) становится Почетным директором.
25.01.2011 | 5677
О формировании единой национальной системы  аккредитации 24 января 2011 года подписан указ "О единой национальной системе аккредитации". Согласно документу, в России создается Федеральная служба по аккредитации, на которую возлагаются функции по формированию единой национальной системы аккредитации и осуществлению контроля за деятельностью аккредитованных лиц. Концепция единой системы аккредитации была одобрена правительством РФ в сентябре 2010 г.
25.01.2011 | 3585
Объявлены финалисты Best in Test 2011 Приглашаем принять участие в голосовании для определения победителей конкурса «Best in Test 2011» (Лучший измерительный прибор), ежегодного проводимого редакцией журнала «Test & Measurement World». Онлайн-голосование продлится до 25 февраля 2011 г.
11.01.2011 | 4803
Медведев подписал указ о метрологическом надзоре в сфере обороны Президент России Дмитрий Медведев подписал указ "О государственном метрологическом надзоре в области обороны и обеспечения безопасности Российской Федерации".
07.12.2010 | 3640
Объявлены победители видео конкурса “Visit Me at CES 2011” Конкурс проводится второй раз среди компаний-участниц Международной выставки International CES 2011. В этом году для участия в конкурсе было представлено порядка 20 видео.
30.11.2010 | 8406
Девятая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments – 2010» Более 350 инженеров, преподавателей, профессоров, научных сотрудников и студентов со всей России, стран СНГ и Балтии соберутся 3-4 декабря 2010 года в Российском университете дружбы народов на конференции National Instruments, чтобы рассказать о своих решениях в промышленных, научных и образовательных приложениях.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.