 | (574) |
 | (121) |
 | (134) |
 | (78) |
 | (666) |
 | (24) |
 | (265) |
 | (20) |
 | (96) |
 | (558) |
 | (225) |
 | (23) |
 | (132) |
 | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 1091 - 1100 из 1560
28.01.2014 | 1851
Сегодня отмечается десятилетие Системы добровольной сертификации экспертов-метрологов. 28 января 2004 года были утверждены Правила функционирования СДСЭМ, что явилось отправной точкой создания и формирования Системы, ее становления и развития.
27.01.2014 | 2101
Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Целостность сигнала/высокоскоростное тестирование (Signal Integrity/High-Speed).
24.01.2014 | 1908
Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории ВЧ/СВЧ-анализаторы (RF/microwave).
23.01.2014 | 1809
Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Тестовая поддержка (Network test).
21.01.2014 | 1692
Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Контроль с помощью систем машинного зрения (Machine Vision/Inspection).
20.01.2014 | 2676
Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Ручное тестирование (Handheld portable test).
19.01.2014 | 1472
28 декабря 2013 года Президент Российской Федерации В.В.Путин подписал Федеральный закон N 412-ФЗ «Об аккредитации в национальной системе аккредитации».
16.01.2014 | 2162
Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Сбор данных (Data acquisition).
15.01.2014 | 1927
Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Производственные испытания (Manufacturing test).
07.01.2014 | 2706
Сегодня начала свою работу Международная выставка CES 2014. Выставка CES 2014, основанная CEA, станет центром международных встреч для всех, кто занимается успешным бизнесом в сфере потребительской электроники. Мероприятие будет открыто для посещения до 10 января включительно. Место проведения: Лас-Вегас, штат Невада, США.
Новости 1091 - 1100 из 1560
|
События из истории измерений
20.02.1844
Родился австрийский физик
|