![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 491 - 500 из 1560
20.11.2018 | 885
9 ноября в г. Туле на базе Федерального бюджетного учреждения «Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Тульской области» состоялся семинар, в котором приняло участие 30 экспертов по аккредитации в области обеспечения единства измерений из Москвы, Казани, Ростова-на-Дону, Омска, Барнаула и других городов России.
19.11.2018 | 704
В Париже завершилась 26-я Генеральная конференция по мерам и весам, на которой принято решение об окончательном переходе к обновленной Международной системе единиц (SI). Через переопределение прошли четыре основные единицы – килограмм, кельвин, ампер и моль. Чуть ранее были переопределены секунда, кандела и метр. Этим подведены итоги многолетней работы мирового научно-технического сообщества, в которой российские ученые приняли самое активное участие.
18.11.2018 | 754
Курс пройдет с 27 по 29 ноября 2018 г. в Санкт-Петербурге. В программе: методы механических испытаний металлокомпозитных, нестандартных, миниатюрных и радиоактивных образцов, материалов с эффектом памяти формы; усталостные испытания металлов: основные методы и способы их реализации на современном оборудовании; примеры влияния параметров испытательного и измерительного оборудования на неопределённость измерений, примеры межлабораторных сличительных испытаний.
17.11.2018 | 736
Научно-практический семинар «Соответствие критериям аккредитации национального органа по аккредитации и новой версии международного стандарта ИСО/МЭК 17025. Изменения в законодательстве и подзаконных актах» пройдет с 26 по 28 ноября 2018 г. в Санкт-Петербурге.
14.11.2018 | 1051
16 ноября 2018 года в Париже на 26-й Генеральной конференции по мерам и весам будут подведены итоги многолетней работы мирового научно-технического сообщества по пересмотру базовых единиц Международной системы единиц (SI) – килограмма, кельвина, ампера и моля. Обновление затронет и такие единицы, как кандела, секунда, метр. Теперь все единицы будут определяться не физическими объектами макромира, а фундаментальными константами природы – атомом и квантом.
13.11.2018 | 704
30 октября в г. Сингапуре в ходе совместной Генеральной Ассамблеи международных организаций по аккредитации ILAC-IAF официально объявлено о присоединении Федеральной службы по аккредитации к Международному форуму по аккредитации IAF (IAF – International Accreditation Forum). Руководитель Службы Алексей Херсонцев и председатель IAF Сяо Цзянхуа, который также является руководителем Китайского национального органа по аккредитации в области оценки соответствия (CNAS), подписали основный членский документ IAF – Меморандум о взаимопонимании.
09.11.2018 | 750
26-27 ноября в Москве состоится V Всероссийский съезд экспертов по аккредитации. В программе двухдневного мероприятия доклады и обсуждения следующих тем: приоритетные направления развития национальной системы аккредитации; актуальные вопросы взаимодействия Росаккредитации с экспертами по аккредитации; совершенствование законодательства Российской Федерации в сфере аккредитации и др. темы.
07.11.2018 | 647
Три новых проекта международных стандартов в области «искусственного интеллекта» будут разработаны в рамках подкомитета по стандартизации ИСО/МЭК СТК 1 ПК 42 «Искусственный интеллект» (ISO/IEC JTC 1/ SC 42 «Artificial Intelligence»). Решение об этом принято на заседании международного подкомитета в городе Саннивейл, Калифорния (США). В его работе приняли участие более 120 экспертов из 20 стран, в том числе российские специалисты.
05.11.2018 | 693
Конференция будет проведена 22 ноября 2018 г. в Москве совместно с Ассоциацией Разработчиков и Производителей Электроники. В ходе конференции будет рассматриваться ряд ключевых вопросов в рамках четырех секций: цифровая электроника, СВЧ и радиоэлектроника, оптоэлектроника, силовая электроника.
02.11.2018 | 779
19 октября в г. Москве состоялась встреча руководителя Федеральной службы по аккредитации с заместителем председателя правления CNAS. В ходе встречи стороны обсудили направления двустороннего сотрудничества в рамках подписанного 02.08.2017 Меморандума о взаимопонимании между Китайской национальной службой по аккредитации в области оценки соответствия и Федеральной службой по аккредитации, в том числе возможность проведения обучения по стандарту ISO/IEC 17025:2017 с привлечением китайских специалистов, принимавших участие в разработке данного стандарта.
Новости 491 - 500 из 1560
|
События из истории измерений
|