EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости КИПиС

RSS

24.02.2012 | 2292
25-ая международная выставка Electronica пройдет в этом году в выставочном центре New Munich Trade Fair Centre

Выставка Electronica Приглашает Вас посетить крупнейшую экспозицию компонентов, систем и приложений в области электроники и электронной промышленности, которая состоится в городе Мюнхене (Германия).

21.02.2012 | 2317
Международная специализированная выставка «Радиоэлектроника и приборостроение - 2012»

Выставка международная специализированная выставка «РАДЭЛ» приглашает Вас к посетить экспозиции  электронных компонентов и комплектующих, материалов, технологий, оборудования, услуг, сертификации, сервиса в радиоэлектронике и приборостроении.

11.02.2012 | 2511
Семинар и мастер-класс "Управление проектами разработки электронной аппаратуры"

Информационно-аналитический Центр Современной Электроники приглашает посетить семинар «Управление проектами разработки электронной аппаратуры», который пройдет 16 февраля 2012 года в Москве. В каждом разделе семинара приводятся примеры из практики докладчиков и их партнеров.

06.02.2012 | 2485
Ассоциация IEEE на международной выставке CES 2012 На выставке Ассоциация IEEE продемонстрировала различные проекты, разработанные в соответствии со стандартами: мобильное видео, умные технологии, возможности домашней сети, электромобили и медицинское оборудование.
01.02.2012 | 2459
Награждение финалистов конкурса Best-in-Test 31 января 2012 года в Санта Клара (Калифорния, США) прошло награждение финалистов конкурса Best-in-Test, ежегодно проводимого журналом Test&Measurement World.
01.02.2012 | 2680
Неделя российского бизнеса 2012

С 6 по 9 февраля 2012 года под эгидой Российского союза промышленников и предпринимателей в Москве проводится традиционная «Неделя Российского Бизнеса», приуроченная к 20-летию РСПП. Неделя российского бизнеса – ключевое мероприятие, на котором обсуждаются и формируются предложения по актуальным направлениям взаимодействия государства и бизнеса.

30.01.2012 | 2481
Молодые компании на выставке CES Около 94 молодых компаний представили свои разработки на выставке InternationalCES 2012.
28.01.2012 | 2500
Семинар "Организация службы качества производства электронной аппаратуры"

Информационно-аналитический Центр Современной Электроники приглашает 2 февраля посетить семинар "Организация службы качества производства электронной аппаратуры", предназначенный для менеджеров по качеству, директоров производства, главных инженеров, руководителей предприятий.

27.01.2012 | 2653
Как прошло открытие выставки CES 2012 Международная выставка наступившего года побила рекорд по количеству экспонентов – посетители в первый же день могли увидеть проекты и инновационные разработки 3100 компаний! Новейшие изобретения, изготовленные с применением передовых технологий, смартфоны, телевизоры с OLED-дисплеем, технологии, действующие по принципу голосовых или жестикулярных команд, и многое другое удивило своим многообразием.
24.01.2012 | 2443
Лучшая инновационная разработка CES 2012. Объявлены победители Компания Consumer Electronics Association (CEA) объявила победителей конкурса Лучшая инновационная разработка CES 2012. За право называться лучшей разработкой боролись представители 32 категорий бытовой электроники.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.