![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 901 - 910 из 1560
21.02.2016 | 1690
28 января 2016г. в РСПП состоялось заседание Межотраслевого совета по прикладной метрологии и приборостроению на тему «Состояние и развитие эталонной базы, используемой для метрологического обеспечения предприятий и организаций».
06.02.2016 | 1940
Семинар "Проектирование аппаратуры на ПЛИС. Современные подходы и средства разработки" состоится 17 февраля в Москве.
Место проведения: Конференц-центр «На Филипповском», Филипповский переулок, 8 стр.1, зал «Moscow» (ст. метро «Арбатская», «Кропоткинская»)
Время проведения: 10.00 - 18.00. Регистрация участников с 09.00
31.01.2016 | 1565
В декабре 2015 года Росаккредитация вступила в Азиатско-Тихоокеанскую организацию по аккредитации лабораторий в качестве полноправного члена.
Вступление Росаккредитации в АПЛАК будет способствовать устранению технических барьеров в торговле и сокращению издержек российских экспортеров при выходе российской продукции на рынки Азиатско-Тихоокеанского региона.
24.01.2016 | 1822
В связи с принятием 29 июня 2015 года 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации» Федеральное государственное автономное образовательное учреждение дополнительного профессионального образования «Академия стандартизации, метрологии и сертификации (учебная)» приглашает принять участие в краткосрочном повышении квалификации по программе «Стандартизация. Деятельность организаций (предприятий) в условиях реформирования технического регулирования в Российской Федерации» в период: с 4 по 5 февраля 2016 г.
23.01.2016 | 1411
По инициативе Комитета по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия, поддержанной Росстандартом, Межотраслевой совет по прикладной метрологии и приборостроению провел опрос предприятий и организаций различных отраслей экономики и других сфер деятельности по вопросам состояния эталонной базы, применяемой для поверки и калибровки средств измерений. 28 января 2016г. в Москве в целях обсуждения результатов анализа проведенного опроса состоится заседание Межотраслевого совета по прикладной метрологии и приборостроению на тему «Состояние и развитие эталонной базы, используемой для метрологического обеспечения предприятий и организаций».
17.01.2016 | 1948
Мероприятие пройдёт с 4 по 5 февраля в Санкт-Петербурге. Семинар предназначен для специалистов аккредитованных лабораторий для изучения новых требований Федеральной службы по аккредитации лабораторий (Росаккредитация), новой документации по аккредитации лабораторий и т.д.
16.01.2016 | 1634
Принятый в июне 2015 года №162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации» открывает новые возможности для промышленности и бизнеса, позволит значительно упростить, оптимизировать и систему технического регулирования, и процессы установления обязательных требований в области безопасности через ссылки на стандарты.
18 февраля 2016г. в Санкт-Петербурге, в целях информирования руководителей и специалистов предприятий о возможностях, которые открывает закон о стандартизации, состоится конференция на тему «Стандартизация, аккредитация и оценка соответствия: новое законодательство и правоприменительная практика».
09.01.2016 | 2137
Когда вы попадаете на выставку CES, перед вами открывается целый мир всевозможных технологий, от привычным потребительских электронных приборов до диковинных изобретений. А как известно, необходимыми компонентами для производства высокотехнологичной электроники являются полупроводники. В выставке этого года участвует большое количество компаний, готовых предложить свои полупроводниковые устройства для различного применения.
08.01.2016 | 2098
Сегодня у посетителей международной выставки CES 2016 есть возможность протестировать новинки контрольно-измерительного оборудования.
07.01.2016 | 2059
Одна из крупнейших международных выставок потребительной электроники CES 2016 продолжает принимать гостей.
Сегодня все посетители CES смогут ознакомиться с широким предложением устройств, относящихся к категории «умного» дома, а также увидеть огромное количество энергосберегающих приспособлений и средств мониторинга уровня энергопотребления.
Новости 901 - 910 из 1560
|
События из истории измерений
13.02.1972
Дата основания
13.02.1910
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии по физике 1956 года
|