EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости КИПиС

RSS

17.06.2010 | 10973
Ростехрегулирование официально переименовано в Росстандарт Постановлением Правительства РФ изменено краткое наименование Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии. Предложение по изменению названия было выдвинуто еще в январе на заседании комиссии по модернизации российской экономики в Липецке. Полное наименование агентства осталось прежним.
04.06.2010 | 13448
10-летие торговой марки АКТАКОМ 3 июня 2010 года состоялось торжественное событие, посвященное знаменательной дате - юбилею известной российской торговой марки АКТАКОМ. Уже 10 лет продукция под этой торговой маркой занимает уверенные позиции на российском рынке контрольно-измерительного оборудования.
03.06.2010 | 2878
Дополнение к информации о продукции, подлежащей обязательному подтверждению соответствия На веб-сайте Федерального агенства по техническому регулированию и метрологии опубликовано дополнение к информации к информации о продукции, подлежащей обязательному подтверждению соответствия, с указанием нормативных документов, размещенной 11 февраля 2010 года. Информация представлена ОАО "РЖД", Росреестром, ГК "Росатом" и Роспотребнадзором.
02.06.2010 | 3240
19-я Международная выставка «ЭЛЕКТРО-2010» На следующей неделе, с 7 по 10 июня 2010 г., пройдет 19-я Международная выставка «ЭЛЕКТРО-2010». Выставка пройдет в Москве, в ЦВК «Экспоцентр» на Красной Пресне. В рамках выставки пройдет VII-я Международная научно-практическая конференция «Возобновляемая и малая энергетика-2010».
27.05.2010 | 3038
Что показал рентгеновский микротомограф Лаборатория рентгеновской оптики Физического института им. П.Н. Лебедева (ФИАН) совместно с институтами РАН и РАМН выполняет работы в области рентгеновской микротомографии. С помощью рентгеновского микротомографа ученые исследовали плацентарную ткань, природные алмазы, графитовые стержни и капсулированное топливо для атомных электростанций.
25.05.2010 | 4871
Симпозиум "Тестирование в оборонной и аэрокосмической промышлености 2010" Компания Agilent Technologies приглашает Вас принять участие в ежегодном Cимпозиуме «Тестирование в оборонной и аэрокосмической промышленности», который пройдет в Санкт-Петербурге 01 июня и в Москве 03 июня 2010 года.
22.05.2010 | 3062
Продолжение цикла международных конференций по вопросам техрегулирования Делегация Минпромторга России во главе с заместителем Министра промышленности и торговли Российской Федерации Владимиром Саламатовым примет участие в международных конференциях по вопросам технического регулирования, сертификации и стандартизации, которые пройдут 24 мая в г. Астане (Казахстан) и 26-27 мая в г. Минске (Беларусь).
21.05.2010 | 2886
Состоялось пленарное заседание Межотраслевого совета по прикладной метрологии и приборостроению 17 мая состоялось пленарное заседание Межотраслевого совета по прикладной метрологии и приборостроению при Комитете РСПП по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия.
18.05.2010 | 3933
Метрология-2010. Открытие выставки и первый день Симпозиума 18 мая на ВВЦ состоялось торжественное открытие 2-го Московского международного симпозиума метрологов и выставки-конкурса «Метрология-2010». Со вступительным словом выступили представилели Ростехрегулирования, Минпромторга, Росатома и др.
17.05.2010 | 3010
2-ой Московский Международный симпозиум метрологов 18 мая на ВВЦ состоится торжественное открытие 2-го Московского Международного симпозиума метрологов и 6-ая Международной выставки-конкурса средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2010». Оба этих мероприятия посвящены Всемирному Дню метрологии и продлятся до 20 мая 2010 г.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.