 | (574) |
 | (121) |
 | (134) |
 | (78) |
 | (666) |
 | (24) |
 | (265) |
 | (20) |
 | (96) |
 | (558) |
 | (225) |
 | (23) |
 | (132) |
 | (154) |
|
Новости КИПиС
Новости 1551 - 1560 из 1560
26.11.2007 | 4664
Впервые в России появился уникальный прибор — цифровой осциллограф DPO72004 с полосой 20 ГГц в реальном времени известного мирового производителя измерительной техники компании Tektronix.
21.11.2007 | 3696
На нашем сайте появился новый раздел "Энциклопедия измерений".
20.11.2007 | 4255
20 ноября 2007 года Директору ФГУ "Орловский ЦСМ" Ковалеву Виктору Ивановичу исполнилось 55 лет!
19.11.2007 | 5170
С 20 по 23 ноября в Санкт-Петербурге в Петербургском СКК проходит крупнейшая в Северо-Западном регионе международная специализированная выставка "Радиоэлектроника и приборостроение" (РАДЭЛ-2007). На стенде компании Эликс Вы можете ознакомиться с датчиками и потенциометрами немецкой компании MEGATRON.
07.11.2007 | 4080
24 октября Вице-президент компании Agilent Technologies г-н Бенуа Нил (Benoit Neel) дал эксклюзивное интервью журналу «Контрольно-измерительные приборы и системы».
28.09.2007 | 6504
30-го сентября 1992 года вышел в свет первый номер журнала "Законодательная и прикладная метрология"...
24.05.2007 | 4550
В серии «Библиотека инженера» вышла книга А.А. Афонского и В.П. Дьяконова «Измерительные приборы и массовые электронные измерения»...
05.04.2007 | 5339
В спектре продукции американской компания Tektronix появилась новая серия осциллографов смешанных сигналов MSO4000.
30.03.2007 | 4290
Корпорация Tektronix (США) объявила о выпуске новой серии генераторов сигналов произвольной формы AWG5000...
06.02.2007 | 4122
5 февраля 2007 г. на пресс-конференции для российских журналистов компания Tektronix объявила о выпуске новых моделей высокопроизводительных цифровых запоминающих осциллографов и анализаторов цифровых последовательностей с полосой пропускания до 20 ГГц.
Новости 1551 - 1560 из 1560
|
События из истории измерений
|