EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Международная Выставка Измерений и Технологий "Микротехнологии"

Международная Выставка Измерений и Технологий "Микротехнологии"

10.06.2009

Сегодня трудно назвать область человеческой деятельности, где современные микротехнологии не являлись бы критически важными, и тематика выставки отражает инновационное развитие всего реального сектора отечественной экономики. В прошлом году в экспозиции был представлен широкий спектр разработок в этой области. Неограниченные возможности для общения специалистов предоставит деловая программа выставки «Микротехнологии», включающая разнообразные семинары, круглые столы, конференцию. Выставка – это не только смотр достижений отрасли, но и рабочая площадка, где происходит обмен опытом, обсуждаются проблемы и возможности сотрудничества. В рамках Международной Выставки Измерительного Оборудования и Технологий 14-15 октября пройдет специализированная конференция "Инновации, Промышленность, Финансы" состоящая из трех разделов: контрольно-измерительное оборудование, датчики и измерения, нанотехнологии. Тематика выставки: МИКРОСИСТЕМНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ, ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ УСТРОЙСТВА, ВСТРОЕННЫЕ СИСТЕМЫ, ДАТЧИКИ И МИКРОСИСТЕМЫ, ОБОРУДОВАНИЕ И ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ - ТЕСТИРОВАНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ, НАНОМАТЕРИАЛЫ И НАНОТЕХНОЛОГИИ


Дата открытия:  14.10.2009
Дата закрытия:  16.10.2009
Место проведения:  Москва. ЦВК "Экспоцентр", павильон №5
Организаторы:  ООО "Фор-Экспо"  / "Novex Ltd."

Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик
Луи Эжен Феликс Неель
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.