EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Веб-семинар Keysight «Обзор обновлений САПР Advanced Design System 2020 для проектирования и моделирования СВЧ-устройств»

Веб-семинар Keysight «Обзор обновлений САПР Advanced Design System 2020 для проектирования и моделирования СВЧ-устройств»

19.06.2020

Компания Keysight приглашает принять участие в веб-семинаре, посвященному обзору обновлений САПР Advanced Design System 2020 для проектирования и моделирования СВЧ-устройств.

Дата вебинара: 25 июня 2020
Время: 14.00 – 16.00 (Москва).

Ссылка для входа: https://keysight.webex.com/keysight/j.php?MTID=med50a27b4da7bcd016cc85e68337595d
Данные для входа: Meeting number (access code): 135 396 0274
Meeting password: 28EZr29JVqe.
Ссылка станет активна за 15 минут до начала вебинара.

На вебинаре эксперты Keysight проведут следующие презентации и демонстрации ПО.

  • Smart Mount, RFPro & ЭМ моделирование – продвинутый модуль проектирования систем в корпусе, косимуляции электромагнитных моделей элементов топологии и схемных компонентов. Обновленный ЭМ симулятор FEM второго поколения
  • Новый инструмент анализ устойчивости нелинейных цепей – Winslow Stability Probe
  • Улучшения симулятора огибающей – Fast Circuit Envelope, Compact Test Signals для ускорения расчёта при воздействии модулированными сигналами
  • Верификация устройств в составе радиосистемы – Verification Test Bench (VTB), а также анализ Distortion EVM без необходимости использовать Data Flow симулятор
  • Улучшения платформы ADS & визуализации данных – управление проектом, нововведения в Data Display, обработка данных при помощи Python
  • Разработка топологии – улучшенные инструменты трассировки (Constraints Manager)
  • Анонс новых бесплатных методических материалов для изучения инструментов SmartMount, RFPro, LVS, DRC и функций трассировки.

Подробную инструкцию по подключению к веб-трансляции можно скачать по ссылке.

www.keysight.com


О компании: Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик
Луи Эжен Феликс Неель
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.