Оценка качества системы МЭК для электронных компонентов – конференция в Росстандарте

31.05.2014

13 мая 2014 года в Росстандарте состоялась международная конференция «Оценка качества системы МЭК для электронных компонентов».

Организаторы мероприятия: Росстандарт, Международная электротехническая комиссия (МЭК), ОАНО «Регистр системы сертификации персонала» и РНИИ «Электронстандарт».

На конференции обсуждались актуальные аспекты международного признания оценки соответствия отечественных изделий электронной компонентной базы (ЭКБ), а также вопросы стандартизации, членства России в Международной системе сертификации электронных компонентов МЭК (Система МЭК ЭК /IECQ IEC), обеспечения и контроля качества ЭКБ и возможности поставок за рубеж перспективных изделий ЭКБ, разрабатываемых и производимых на предприятиях России.

Изделия (ЭКБ) используются для производства радиоэлектронной аппаратуры, систем связи и телекоммуникаций.

Открывший конференцию Заместитель Руководителя Росстандарта Александр Зажигалкин отметил, что МЭК уделяет большое внимание вопросам оценки соответствия и присутствующие на конференции имеют уникальную возможность ознакомиться с международным опытом в этой области. А. Зажигалкин подчеркнул важность обеспечения и контроля качества продукции и роль стандартизации в этом процессе.

С докладами на конференции выступили Аллан Стив, представитель системы МЭК ЭК/IECQ IEC и Наталия Коломенская, заместитель генерального директора РНИИ "Электронстандарт".

В конференции приняли участие представители более 20 организаций производителей ЭКБ, студенты МАИ и др.

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (РОССТАНДАРТ) www.gost.ru

О компании: Росстандарт