EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Компания Rohde & Schwarz приглашает Вас посетить ежегодную III Всероссийскую научно-техническую конференцию «Электроника и микроэлектроника СВЧ»

Компания Rohde & Schwarz приглашает Вас посетить ежегодную III Всероссийскую научно-техническую конференцию «Электроника и микроэлектроника СВЧ»

02.06.2014

Компания Rohde & Schwarz приглашает Вас со 2 по 5 июня 2014 года посетить ежегодную III Всероссийскую научно-техническую конференцию «Электроника и микроэлектроника СВЧ».

На конференции специалисты компании выступят с докладами по темам:

  • «Решения от компании Rohde & Schwarz по измерению характеристик элементов для радиоэлектронной промышленности»;
  • «Измерение параметров нелинейных устройств на оборудовании Rohde&Schwarz и Mesuro».

В рамках конференции пройдет выставка, на которой вы сможете ознакомиться с новинками контрольно- измерительного оборудования Rohde & Schwarz и провести интересующие Вас измерения.

Конференция пройдёт по адресу: Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина) (СПбГЭТУ), г. Санкт-Петербург, улица Профессора Попова, д.5.

По дополнительным вопросам можно обратиться к Беззубовой Евгении:
Тел.:+7(812)448-65-08 или E-mail: Evgenia.Bezzubova@rohde-schwarz.com

Для регистрации необходимо перейти на сайт конференции

Rohde & Schwarz


О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.