|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Компания Agilent Technologies расширила линейку самых универсальных в мире анализаторов цепей PNA-X моделью с диапазоном частот до 8,5 ГГц19.05.2014 Компания Agilent Technologies Inc. расширила линейку самых универсальных в мире анализаторов цепей серии PNA-X, представив недорогую модель анализатора с верхней границей диапазона частот 8,5 ГГц. Эта модель анализатора предназначена для тестирования низкочастотных устройств, используемых в средствах беспроводной связи, например, в сотовых телефонах, базовых станциях, беспроводных локальных сетях и других устройствах мобильной связи. Обладатель множества отраслевых наград, семейство нелинейных векторных анализаторов цепей (NVNA) серии PNA-X также пополнилось моделью с верхней границей диапазона частот 8,5 ГГц. Новые решения предоставляют возможность инженерам, занимающимся тестированием активных устройств в процессе их разработки и производства, выбрать модель с частотным диапазоном, которая наилучшим образом подходит для решения конкретных прикладных задач. В процессе тестирования активных устройств правильное сочетание быстродействия, характеристик и достоверности измерений способно предоставить серьезное конкурентное преимущество. Новая модель анализатора PNA-X с диапазоном 8,5 ГГц обеспечивает высочайшую производительность и широкие функциональные возможности, необходимые для выполнения самых разнообразных задач. Более того, его относительно невысокая стоимость и меньший диапазон частот позволяют использовать развитые измерительные возможности серии PNA-X при разработке средств беспроводной связи, где особое значение приобретает сокращение сроков испытаний, числа испытательных установок и затрат на тестирование. Для тестирования малошумящих усилителей обычно требуется несколько измерительных установок, в частности, для измерения усиления и согласования слабых сигналов, искажений и коэффициента шума. Анализаторы серии PNA-X позволяют объединить все эти функции в одном приборе, что дает возможность сократить количество испытательных установок на 75%, а расходы на тестирование — на 30%. Новая модель с диапазоном 8,5 ГГц позволяет использовать возможности нелинейного векторного анализатора цепей инженерам, работающим как в ВЧ, так и в СВЧ диапазоне частот. Нелинейные векторные анализаторы цепей компании Agilent являются первым в отрасли решением, позволяющим выполнять измерения и моделирование в процессе разработки нелинейных компонентов. Эти приборы обеспечивают глубокий анализ поведения нелинейных схем, что делает их особенно полезными для ученых, исследующих новые ВЧ технологии, и инженеров, занимающихся разработкой современных высокопроизводительных активных устройств. Используя NVNA, они имеют возможность измерять X-параметры, а затем на основе результатов измерений создавать модели X-параметров, которые могут быть импортированы в систему автоматизированного проектирования радиоэлектронных устройств ADS для моделирования реального поведения линейных и нелинейных компонентов. «Разработчики современных средств беспроводной связи и производители ВЧ компонентов хотят иметь возможность приобрести измерительную систему, которая полностью соответствовала бы их потребностям, но при этом не платить за функции, которые им не нужны, — сказал Стив Шеппельман (Steve Scheppelmann), менеджер по маркетингу подразделения анализаторов цепей PNA компании Agilent. — Новая модель анализатора цепей PNA-X с верхней границей диапазона частот 8,5 ГГц в сочетании с самым широким в отрасли выбором измерительных приложений обеспечивает высокую степень гибкости, необходимую для создания оптимальной конфигурации испытательной системы». Основные возможности анализаторов цепей серии PNA-X включают:
Более подробная информация о новой модели анализатора серии PNA-X с диапазоном 8,5 ГГц и передовой технологии нелинейного векторного анализа цепей приведена на страницах www.agilent.com/find/pna и www.agilent.com/find/nvna соответственно. О компании: Keysight Technologies Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|