|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Компания National Instruments представляет векторный анализатор сигналов хай-энд класса в форм-факторе PXI28.02.2011 Компания National Instruments представила новый векторный анализатор ВЧ-сигналов NI PXIe-5665, обладающий диапазоном частот до 3,6 ГГц и обеспечивающий лучшую в своем классе производительность среди приборов в форм-факторе PXI. Новый векторный анализатор обладает одними из лучших показателей по фазовым шумам, среднему уровню шума, точности измерения амплитуды и динамическому диапазону. Архитектура платформы PXI позволяет реализовать потоковую передачу данных между измерительными модулями в режиме «Peer to Peer», а также обладает всеми возможностями для построения систем MIMO с соблюдением синфазности с высокой точностью между каналами и высочайшей скоростью измерений, требуемой при автоматизированном тестировании радиоустройств.
По словам Фила Хестера (Phil Hester), вице-президента компании National Instruments по научным исследованиям и перспективным разработкам, векторный анализатор ВЧ-сигналов NI PXIe-5665 является самым производительным радиоизмерительным прибором данного класса, обладая при этом меньшей стоимостью по сравнению с традиционными анализаторами сигналов. Поскольку новый анализатор сочетает в себе высокую производительность и гибкость модульной архитектуры PXI в компактном форм-факторе, инженеры могут использовать его на протяжении всего цикла разработки изделия от проектирования до производства.
Векторный анализатор состоит из модуля понижения частоты NI PXIe-5603, формирователя гетеродинных сигналов PXIe-5653, модуля оцифровки промежуточной частоты NI PXIe-5622, с частотой дискретизации 150 МГц. Такое сочетание приборов идеально подходит для спектрального и широкополосного векторного анализа сигналов в диапазоне частот от 20 Гц до 3,6 ГГц с мгновенной полосой 50 МГц. Новый векторный анализатор ВЧ-сигналов обеспечивает исключительно низкий уровень фазового шума, равный -129 дБн/Гц при отстройке 10 кГц и частоте несущей 800 МГц, средний уровень шума -165 дБм/Гц, точку пересечения третьего порядка в районе +24 дБм, а также абсолютную погрешность измерения амплитуды ± 0.10 дБ. Данные характеристики являются еще одним доказательством принадлежности NI PXIe-5665 к хай-энд классу.
Для анализа модулированных сигналов векторный анализатор обладает возможностью автоматической калибровки, которая позволяет достичь равномерности АЧХ ±0.15 дБ и линейности фазы ±0.1 градуса. Такая точность обеспечивает исключительно малую величину амплитуды вектора ошибки, составляющую менее 0.21% для 256-QAM сигнала. Благодаря гибкой модульной архитектуре, векторный анализатор радиосигналов поддерживает когерентные по фазе измерения при использовании его в MIMO-конфигурациях, скорость сканирования полосы до 20 ГГц/с и потоковую передачу данных «Peer to Peer» для мониторинга спектра в режиме реального времени. Кроме того, векторный анализатор NI PXIe-5665 имеет встроенный режим list mode, позволяющий детерминировано переключаться между предопределенными пользователем конфигурациями прибора при помощи внутренних средств синхронизации, либо внешнего триггера.
Представленный векторный анализатор ВЧ-сигналов NI PXIe-5665 входит в линейку более чем 1500 модульных приборов PXI. Инженеры могут одновременно использовать анализатор с разнообразными модулями PXI, и с помощью среды графической разработки NI LabVIEW создавать приложения для автоматизированных систем испытаний. Это делает PXI идеальной платформой для решения различных задач тестирования. В полной мере оценить производительность нового векторного анализатора можно применяя разнообразные среды разработки, такие как LabVIEW, NI LabWindows™/CVI и .NET для тестирования ВЧ-устройств и протоколов беспроводной передачи данных, включая WCDMA, LTE, WLAN и WiMAX.
Для получения дополнительной информации о векторном анализаторе радиосигналов NI PXIe-5665 VSA, посетите страницу www.ni.com/rf.
National Instruments
О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|