|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Agilent Technologies приглашает на ежегодный трёхдневный семинар 12-14 октября01.10.2010 Компания Agilent Technologies приглашает Вас на ежегодный трехдневный семинар «Инновационные контрольно-измерительные решения Agilent Technologies», который пройдет 12-14 октября 2010 в Москве.За последний год компания Agilent Technologies сделала несколько поистине революционных прорывов в области тестирования: появление новейших осциллографов реального времени с истинной аналоговой полосой пропускания 32 ГГц на базе чипсета на фосфиде индия, анализаторов сигналов на базе X-платформы, крупнейшее за всю историю существования рынка измерительных приборов расширение ассортимента модульных приборов в стандартах PXI и AXIe и др. На семинаре будет рассказано о новейших контрольно-измерительных решениях, продемонстрирована работа приборов, также Вы сможете получить ответы на интересующие вопросы. Кроме того, Вы услышите о самых последних достижениях Agilent Technologies, о которых будет объявлено в конце сентября 2010. В ходе семинара будет представлен подробный рассказ о новых возможностях сервисного центра Agilent Technologies по проведению поверки контрольно-измерительных приборов Agilent до 40 ГГц, а также на специальной стойке будет продемонстрировано выполнение калибровки некоторых приборов программными средствами Agilent. Семинар будет состоять из 3 полнодневных сессий, каждая из которых традиционно будет посвящена определенному кругу тем. Вы можете зарегистрироваться на все сессии либо выбрать те из них, которые представляют для Вас наибольший профессиональный интерес. 12 октября 2010: Радиоизмерения. Новинки и практическое применение. Первый день семинара будет посвящен Радиоизмерениям. Помимо докладов по новинкам среди анализаторов и генераторов сигналов, анализаторов цепей, а также модульных PXI/AXIe приборов, участникам семинара представится возможность провести собственные измерения на представленных демонстрационных приборах. Эксперты Agilent помогут провести испытания параметров Ваших блоков, модулей, узлов и запротоколировать результаты измерений, проведенных на выбранных Вами измерительных стендах. Планируется оборудовать следующие измерительные стенды:
13 октября 2010: Осциллография, цифровой и параметрический анализ. Сессия 13 октября будет посвящена новинкам в области осциллографии, логического анализа, параметрического анализа, приборов общего назначения и автоматизации измерений. Некоторые из новинок:
14 октября 2010: Решения для тестирования телекоммуникаций и спектрального мониторинга. Основные темы 14 октября:
Зарегистрироваться можно на сайте: www.agilent.ru/find/russia_events (с 01 октября 2010). Agilent Technologies, www.agilent.ru Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|