|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Семинар «Основы метрологии»06.02.2017 Keysight Technologies приглашает принять участие в семинаре «Основы метрологии», который пройдет в Новосибирске 08 февраля 2017.В ходе разработки и производства электронных устройств инженеры полагаются на данные измерений, выполненных различными контрольно-измерительными приборами. Прослеживаемость, точность и воспроизводимость - ключевые понятия метрологии. С целью поддержки развития технологий и обеспечения единства измерений метрологические службы предприятий должны гарантировать прослеживаемость измерений различных электрических параметров, в том числе, тока, напряжения, импеданса и мощности в требуемом диапазоне частот. В настоящий момент электрические и радиочастотные стандарты, прослеживаемые до метрологических лабораторий, имеют максимальный диапазон частот 110 ГГц. (в тракте 1-мм). Компания Keysight работает с несколькими национальными метрологическими институтами по всему миру, чтобы расширить прослеживаемость измерений в диапазоне свыше 110 ГГц. В ходе семинара будут представлены новейшие технологии, разработанные для повышения точности, воспроизводимости и прослеживаемости измерений метрологического класса. Эксперты-метрологи Keysight расскажут об основных требованиях, предъявляемых к калибровке, о типичных ошибках калибровки, отдельно остановятся на возможных источниках этих ошибок. Также будут рассмотрены вопросы погрешности измерений, верификации калибровки и использование стандартов верификации для оценки работы откалиброванной системы. В финальной части семинара будет рассказано о новейших технологических достижениях в калибровке и о том, что нужно принимать во внимание при выборе приборов для метрологических измерений. К участию приглашаются главные метрологи, главные инженеры и руководители, отвечающие за качество измерений и управление парком измерительных приборов предприятия.
Подробную программу семинара можно посмотреть по данной ссылке.
О компании: Keysight Technologies Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|