|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Семинар «Современные методы тестирования параметров антенн»30.01.2017 Компания Keysight Technologies, совместно с Frankonia и NSI-MI Technologies, приглашает посетить бесплатный семинар «Cовременные методы тестирования параметров антенн», который состоится 09 февраля 2017 года в Москве.Антенные системы становятся всё более сложными, в связи с чем требования и к разработке элементов антенных систем, и к тестированию параметров антенн постоянно ужесточаются. Повышение требований к измерениям вызвано тем, что в распоряжении конструкторов появились новые технологии, позволяющие разрабатывать более эффективные антенны. Так, появление активных приемопередающих модулей предоставляет новые возможности по формированию амплитудно-фазового распределения составляющих электромагнитного поля по апертуре антенны. Это позволяет не только улучшить целевые характеристики антенных систем, но и динамически управлять лучом антенны путем изменения значений амплитуды и фазы для каждого элемента. Использование подобных технологий значительно усложняет конструкцию антенн, и для того, чтобы полностью оценить характеристики такой антенны, необходимо получить и обработать огромный объем данных. На семинаре 09 февраля будут рассмотрены современные подходы к измерению характеристик антенн, в том числе в дальней и ближней зонах, ЭПР, основных параметров антенн (коэффициент усиления, диаграмма направленности, ширина луча, поляризация и импеданс), аппаратные и программные средства измерений параметров антенн во временной и частотной областях, а также вопросы метрологического обеспечения антенных измерений. Кроме того, будет представлено контрольно-измерительное оборудование компании Keysight для антенных измерений, безэховые камеры компании Frankonia и комплексы измерения параметров антенн компаний NSI-MI Technologies и Радиолайн.
Подробную программу семинара, а также условия участия в семинаре, можно посмотреть по данной ссылке.
О компании: Keysight Technologies Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|