|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Компактная диагностическая безэховая камера R&S®DST200 для разработки РЭС до 6 ГГц28.07.2010 Компания Rohde&Schwarz представила новую безэховую камеру R&S®DST200. Компактный размер (770 x 760 x 695 мм) камеры позволяет разместить её на рабочем месте разработчика РЭС. Частотный диапазон от 700 МГц до 6 ГГц, однородность поля менее 3,2 дБ и экранирование 110 дБ делает камеру пригодной для тестирования, например, телефонов и других приёмников беспроводных стандартов связи (WLAN, WiMAX, GPS и т.д.).
Применение современных технологий, позволяет уместить в новых устройствах как можно большее количество элементов в минимально возможном пространстве. К сожалению, близкое расположение некоторых элементов в устройствах связи приводит к возникновению собственных помех, вызванных, например, модулями WLAN и Bluetooth®, а также видеокамерами, дисплеями или осцилляторами. Эти помехи могут значительно снизить чувствительность приемника, что, в свою очередь, может привести к сбоям или прерыванию связи при звонках вблизи края соты. Новая РЧ диагностическая камера R&S®DST200 позволяет разработчикам устройств связи проводить тестирование на ранних этапах разработки для оптимизации конструкции и снижения интерференции.
Применение высококачественных материалов, наличие переходных панелей для ВЧ сигналов, USB, оптических кабелей, наличие фильтров для USB и D-SUB9 соединений, отделения для размещения дополнительного оборудования (например, усилителей), и возможность комплектования 3D позиционером позволяют по праву считать R&S®DST200 одним из лучших решений на рынке.
Безэховая камера R&S®DST200 удовлетворяет требованиям к РЧ испытаниям в научно-исследовательских лабораториях, службах контроля качества, на производстве и при сервисном обслуживании различных РЧ устройств. По сравнению с испытательными системами, использующими большие безэховые камеры, системы с R&S®DST200 компактны и просты в эксплуатации.
О компании: Rohde & Schwarz Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|