|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Мощные высоковольтные и сильноточные японские характериографы Iwatsu!22.09.2013 Эликс представляет новые системы измерения параметров полупроводников: мощные высоковольтные и сильноточные характериографы японской корпорации Iwatsu!!! Характериографы Iwatsu представляют уникальную возможность проводить измерения и выполнять построение ВАХ на напряжениях до 10000 В и токах до 8000 А. Новые характериографы представлены тремя сериями: CS-3000 (3 модели), CS-5000 (3 модели), CS-10000 (2 модели) которые различаются функциональностью, мощностью и максимальными режимами работы.
Основные возможности характериографов Iwatsu: Четыре рабочих режима измерения:
Пошаговый генератор: Возможность выбор от 0 до 20 шагов для большей эффективности измерений. Функция свипирования: Возможность установки от 20 до 1000 точек в режиме свипрования для большей эффективности измерений. Графический интерфейс: Удобный графический интерфейс обеспечивает простоту установки для всех режимов тестирования. Два графических режима представления результатов измерения:
Импульсные измерения в сильноточном режиме: Возможность изменения параметров импульса:
Функция сравнения с опорной формой сигнала. Программное обеспечение базового блока CS-800 (опция): Программное обеспечение CS-800 устанавливается в базовый блок системы и поддерживает функцию ограничения напряжения и тока, а также проводить измерения Vth и hFE. Программное обеспечение для персонального компьютера CS-810 (опция): Программное обеспечение CS-810 устанавливается в персональный компьютер и обеспечивает дистанционное управление системой измерения через LAN интерфейс. Сохранение результатов измерения на USB-носитель: Сохранение на USB-носитель (интерфейс находится на передней панели базового блока) происходит в формате CSV. Однако сохранение возможно и в режиме дистанционного управления через LAN интерфейс, как в CSV формате, так и виде изображения в форматах TFT, BMP, PNG. Характериографы Iwatsu могут быть полезны при тестировании и измерении параметров различных полупроводниковых устройств для испытания которых требуются большие токи или напряжения, например IGBT-транзисторов, MOSFET-транзисторов, светодиодов, биполярных и полевых транзисторов, диодов и т.п. Возможность наблюдения ВАХ непосредственно на дисплее самого базового блока системы значительно упрощает процедуру тестирования иделает ее более наглядной. Подробнее на сайте компании ЭЛИКС |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|