|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новый пользовательский интерфейс и новый внешний вид приборов компании Keysight Technologies продолжают традиции инноваций и высочайшего качества07.04.2016 Компания Keysight Technologies представила новый дизайн своих приборов, который обеспечивает исключительно широкие возможности взаимодействия пользователя с приборами благодаря усовершенствованиям пользовательского интерфейса на основе сенсорного дисплея с технологией «мультитач» и экологически безопасной конструкции. Новый современный внешний вид продолжает многолетние традиции компании по обеспечению высочайшего качества продукции и внедрению инноваций. «Мы рады, что наши приборы теперь имеют новый дизайн и улучшенный пользовательский интерфейс, — сказал Джей Александер (Jay Alexander), старший вице-президент и технический директор компании Keysight. — И неуклонное развитие Keysight, позволяющее нашим приборам выделяться из общего ряда, и передовые технологии, лежащие в основе нового пользовательского интерфейса, — все это в очередной раз демонстрирует наше стремление подтвердить свое лидирующее положение в области разработки и тестирования в аэрокосмической, телекоммуникационной и полупроводниковой отраслях». Новый дизайн отражает высочайшее качество и мастерство компании в разработке инновационных решений
Первыми приборами, выполненными в новом дизайне, будут анализаторы сигналов Keysight серии X. Приборы серии X обеспечивают непревзойденное удобство использования за счет усовершенствованного интерфейса, высокой производительности и широких функциональных возможностей, что позволяет достичь новых уровней взаимодействия пользователя с приборами и интуитивно понятным связям между причиной и следствием. Изображения анализаторов сигналов серии X представлены по ссылке www.keysight.com/find/X-SeriesSA_images. Дополнительная информация о новом дизайне приборов Keysight приведена на странице www.keysight.com/find/newlook. О компании: Keysight Technologies Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|