EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Поиск паразитных спектральных составляющих может быть осуществлен в 500 раз быстрее с помощью функции высокопроизводительного анализатора спектра, интегрированной в векторные анализаторы цепей Keysight PNA

Поиск паразитных спектральных составляющих может быть осуществлен в 500 раз быстрее с помощью функции высокопроизводительного анализатора спектра, интегрированной в векторные анализаторы цепей Keysight PNA

26.10.2015

Компания Keysight Technologies объявила о новой опции, добавляющей возможности высокопроизводительного анализатора спектра к линейке СВЧ векторных анализаторов цепей серий PNA и PNA-X. Эта уникальная функция ускоряет тестирование от 10 до 500 раз. Такое расширение функциональности векторного анализатора цепей сокращает число соединений в измерительной системе и экономит время, добавляя быстрые измерения паразитных спектральных составляющих в прибор, используемый для измерения S-параметров, точки компрессии и искажений в спутниковом оборудовании, оборонной электронике и коммерческих беспроводных устройствах.

Измерение паразитных спектральных составляющих отнимает, как правило, много времени, вынуждая идти на компромисс между временем измерения и областью охвата испытаний. Благодаря новой высокопроизводительной функции анализатора спектра, Keysight PNA может выполнять быстрый поиск паразитных спектральных составляющих в широком диапазоне частот, повышая скорость тестирования до 500 раз по сравнению с существующими методами. Результаты измерений сравнимы с результатами, полученными с помощью самых быстродействующих и сложных на сегодняшний день автономных анализаторов спектра или сигналов.

Кроме того, векторный анализатор цепей может выполнять одновременные измерения спектра на всех измерительных портах. Эта уникальная, впервые в отрасли реализованная функция сокращает время проектирования, позволяя измерять параметры смесителей, преобразователей, усилителей, модулей и подсистем без изменения соединений измерительной схемы. В качестве примера можно привести измерение уровня проникновения сигналов гетеродина, ВЧ и ПЧ, измерение коэффициента гармоник, интермодуляционных искажений и других продуктов смешения высокого порядка.

Измерения с использованием тестовой оснастки и зондовых станций становятся более точными за счет калибровки векторных анализаторов цепей и функции исключения влияния внешних элементов, которая корректирует погрешность АЧХ приёмника и устраняет влияние кабелей и разъёмов. Результирующее повышение точности измерений позволяет сузить допуски на испытания и строже соблюдать технические требования.

«Возможность выполнения высокопроизводительных измерений спектра и параметров электрических цепей с помощью одного прибора даёт беспрецедентно глубокое представление о исследуемом устройстве, – сказал Стивен Шеппельманн (Steven Scheppelmann), менеджер по маркетингу анализаторов серии PNA отдела тестирования компонентов компании Keysight. – Заменяя матричный коммутатор и автономный анализатор спектра, эта инновация нацелена на удовлетворение важной потребности в сокращении размера систем для измерения параметров компонентов».

Векторные анализаторы цепей Keysight созданы на основе богатого опыта компании в области измерения параметров линейных и нелинейных устройств. И в научных исследованиях, и на производстве приборы семейства PNA обеспечивают непревзойдённое преимущество в измерениях.

Дополнительная информация

Дополнительная информация приведена на странице www.keysight.com/find/PNA. Изображения высокого разрешения представлены по ссылке www.keysight.com/find/PNA_images.

www.keysight.com


О компании: Keysight Technologies

Возврат к списку

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.