|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Решения Rohde & Schwarz в области тестирования чипсетов ГНСС28.07.2015 Компания Rohde & Schwarz представляет тестер чипсетов ГНСС, который базируется на платформе векторного генератора сигналов SMBV100A. Данный тестер был разработан специально для тестирования чипсетов ГНСС и для проведения тестирования скорости оптимизации (speed-optimized test) при производстве приемников ГНСС. Тестер поддерживает такие виды стандартов навигационных сигналов как: GPS, ГЛОНАСС, Galileo и BeiDou. Тестер обеспечивает гибкую настройку навигационных данных и профилей движения для проверки динамических характеристик приемников ГНСС.Тестер был разработан в тесном сотрудничестве с компанией Qualcomm и поддерживаются платформой Qualcomm® GNSS RF Development setup и программным обеспечением QDART™. Отличительные особенности прибора:
Дополнительные возможности тестирования чипсетов ГНСС
Один спутник для каждого вида навигационной системы
Общий ВЧ выход для всех 4-х стандартов навигационных сигналов. Генерация немодулированного сигнала в широком динамическом от -145 до +18 дБм и частотном от 9 кГц до 3,2 ГГц диапазоне, который может быть использован для калибровки. О компании: Rohde & Schwarz Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|