|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Agilent Technologies представила новейшую систему внутрисхемного контроля с цифровыми функциями и недорогой системой крепления09.07.2009 Компания Agilent Technologies объявила о запуске в производство системы внутрисхемного контроля Medalist i1000D, обладающей возможностью тестирования цифровых устройств. Система i1000D призвана закрыть растущую брешь между многофункциональными внутрисхемными тестерами и младшими моделями анализаторов производственных дефектов. Разработанная специально для производителей, ищущих недорогое решение с аналоговыми и цифровыми функциями и способное работать с более сложными современными печатными платами (PCBA), система i1000D предлагает:
Такие возможности непременно заинтересуют тех заказчиков, которые хотят выполнять более полное тестирование без дополнительных затрат. "С ростом числа высокоскоростных цифровых устройств, собранных на печатных платах постоянно сокращающегося размера, наши заказчики обнаружили, что первое поколение технологии TestJet, используемое в большинстве анализаторов производственных дефектов, уже не обладает достаточными возможностями", – отметил Даниэл Мак, вице-президент и генеральный менеджер отдела измерительных систем компании Agilent. “Мы считаем, что дальнейшее развитие должно идти по пути предоставления заказчику мощного решения, соответствующего его требованиям к цене и функциональности. С выпуском i1000D мы упаковали последние, удостоенные призов, инновации компании Agilent в одну недорогую систему, предназначенную для крупных производителей, для которых важную роль играют затраты на тестирование”. Система i1000D обладает всеми функциями периферийного сканирования и последним комплектом тестов на базе VTEP v2.0 компании Agilent, поддерживающим новейшую, удостоенную призов технологию расширенного покрытия. Подробную информацию о входящих в этот комплект инструментах можно найти на странице: http://www.agilent.com/see/vtep. О компании: Keysight Technologies Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|