![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
01.12.2008 | 4067
Компания National Instruments представила новую линию открытого аппаратного обеспечения на базе ПЛИС для платформ PXI. Семейство NI FlexRIO является первым промышленным, коммерческим, решением, позволяющим специалистам в полной мере использовать функциональную гибкость технологии NI LabVIEW FPGA в сочетании c высокоскоростным вводом/выводом сигналов. При помощи NI FlexRIO, специалисты смогут реализовать собственные алгоритмы обработки сигналов на платформах PXI с применением ПЛИС.
17.10.2008 | 3384
National Instruments объявила о выпуске нового восьмислотового шасси для создания систем детерминированного ввода/вывода под управлением LabVIEW. Новое шасси обладает возможностями высокоскоростной передачи данных с низким джиттером, для таких приложений, как распределенные системы управления, машиностроение и аппаратно-программное моделирование (HIL).
16.10.2008 | 6227
Компания National Instruments объявила о дальнейшей интеграции платформ Multisim и LabVIEW. Благодаря интеграции недавно вышедшего Multisim 10.1 и LabVIEW, специалисты смогут точнее определять и анализировать поведение схем и детектировать ошибки еще на ранних стадиях разработки. Кроме того, с использованием бета версии NI LabVIEW Multisim Connectivity Toolkit, разработчики смогут улучшить реализацию своих проектов.
15.10.2008 | 3799
Компания National Instruments объявила о выпуске двух новых модулей ввода/вывода R-серии для платформ PXI, которые позволят специалистам достичь нового уровня производительности аппаратной реализации цифровой обработки сигналов. Представленные модули являются готовым коммерческим оборудованием, программируемым в NI LabVIEW FPGA Module и предназначены для реализации пользовательских алгоритмов обработки сигналов, для анализа данных “на лету” и детерминированного управления вводом/выводом сигналов в приложениях, требующих специализированных возможностей запуска и синхронизации.
01.10.2008 | 5010
Компания National Instruments представила высокоскоростной встраиваемый промышленный контроллер NI PXI-8108, а также два вспомогательных устройства — твердотельный жесткий диск объемом 32 ГБ и модуль системной диагностики NI-8250. Новые продукты позволят увеличить производительность системы, а также повысить ее надежность и помогут специалистам достичь нового уровня быстродействия, снизить время испытаний и увеличить срок службы систем.
30.09.2008 | 3339
28-29 ноября 2008 года в Российском университете дружбы народов пройдет Седьмая международная научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2008». Как и всегда, конференция соберет студентов, профессоров, инженеров со всей России, стран СНГ и Балтии. Организаторами конференции выступят Министерство образования и науки Российской Федерации, российское представительство компании National Instruments и Российский университет дружбы народов.
15.08.2008 | 3942
Новые радиочастотные модули в сочетании с шасси на базе PXI Express позволяют создать функционально гибкий, быстродействующий комплекс для тестирования систем беспроводной связи.
14.08.2008 | 4062
Модули сбора данных на базе интерфейсов Wi-Fi и Ethernet дают возможность проводить дистанционные измерения с максимальной производительностью.
12.08.2008 | 6265
Новая версия LabVIEW дает возможность воспользоваться преимуществами многоядерных систем, беспроводных технологий и ПЛИС
04.08.2008 | 4065
Новый модуль обладает улучшенными рабочими характеристиками для широкополосных измерений в приложениях автоматизированных тестовых испытаний.
|
События из истории измерений
|