EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

05.06.2009 | 3161
National Instruments представила программируемую систему для тестирования устройств WiMAX Компания National Instruments анонсировала выход программного обеспечения NI Measurement Suite for Fixed WiMAX (IEEE 802.16-2004), предназначенного для конфигурирования программируемой измерительной системы PXI RF. С помощью представленного программного обеспечения, инженеры смогут тестировать базовые и абонентские станции WiMAX, а также отдельные компоненты, например трансиверы, усилители мощности и другие радиочастотные элементы. Специалисты могут заказать данный пакет программ отдельно или вместе с предварительно настроенным комплектом оборудования.
02.06.2009 | 3116
Конференция NIWeek 2009 – новые технологии измерений автоматизации тестирования Компания National Instruments представила программу NIWeek – конференции и выставки, посвященной технологиям графического программирования, которая соберет более 3000 инженеров, преподавателей и ученых. Пятнадцатая ежегодная конференция NIWeek 2009 пройдет с 4 по 6 августа в Конвеншн–центре города Остин в штате Техас. В течение трех дней конференции пройдут собрания по техническим проблемам, практические семинары, целевые саммиты и интерактивные выставки, на которых будут представлены последние разработки в областях проектирования, управления, автоматизации, производства и испытаний. На конференции также будут представлены презентации по ключевым темам, а также демонстрации новых продуктов.
01.06.2009 | 3619
Компания National Instruments представила реконфигурируемый трансивер промежуточной частоты с интерфейсом PXI Express для программируемого тестирования ВЧ-приборов и создания полнофункциональных прототипов National Instruments представила трансивер промежуточной частоты NI PXIe-5641R RIO IF, самую последнюю разработку для тестирования ВЧ-систем. NI PXIe-5641R является модулем с двумя входами и двумя выходами, в котором объединены: генератор/оцифровщик ПЧ-сигналов, реконфигурируемый ввод/вывод сигналов с использованием ПЛИС Xilinx Virtex-5 SX95T и высокопроизводительная шина PXI Express. Таким образом, модуль предназначен для использования в таких приложениях, как тестирование радиосистем, программируемое радио, радиотехническая разведка и разработка систем связи.
12.05.2009 | 3609
Семинар National Instruments по диагностике и испытаниям машин, механизмов и конструкций Компания National Instruments приглашает вас на семинар «Диагностика состояния и испытания машин, механизмов и конструкций: вибрация, акустика, прочность и температура». Семинар пройдет в Инновационно-Аналитическом Центре Департамента Образования г. Москвы 19 мая 2009 г. Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации.
20.04.2009 | 7091
National Instruments выпустила новую версию образовательной платформы NI ELVIS II + Компания National Instruments анонсировала выход новой версии образовательной платформы NI Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite (NI ELVIS) II+. Платформа NI ELVIS получила широкое распространение по всему миру благодаря тому, что она связывает теорию с реальными практическими задачами.
18.04.2009 | 3789
Компания National Instruments объявила о выходе приборов NI ELVIS II на русском языке.
17.04.2009 | 3436
Компания National Instruments выпустила промышленные контроллеры на базе процессоров Intel® Компания National Instruments представила серию промышленных контроллеров NI 31xx, выполненных в надежном форм-факторе и позволяющих работать с тестовыми платформами NI. Контроллер NI 3110 оснащен двухъядерным процессором Intel® SL9JT L2400 1.66 GHz Core™, а NI 3100 – процессором Intel® 1.06 GHz Celeron® M 423. Оба контроллера поставляются с предустановленной операционной системой Windows XP. Благодаря надежной конструкции и отсутствию охлаждающих вентиляторов, эти контроллеры идеально подойдут для приложений в суровых промышленных условиях.
16.04.2009 | 4414
Новое программное обеспечение National Instruments открывает возможности LabVIEW FPGA для С-разработчиков National Instruments анонсировала выпуск нового программного интерфейса, который уже доступен для скачивания из виртуальной лаборатории компании NI Labs. Новый C-интерфейс облегчает разработчикам приложений С/C++ эксплуатацию программного обеспечения NI LabVIEW FPGA, а также оборудования на базе ПЛИС для разработки встраиваемых систем управления и систем сбора данных.
15.04.2009 | 3640
National Instruments выпустила 15 встраиваемых модулей ввода/вывода для платформы NI Single-Board RIO Компания National Instruments анонсировала выход ряда модулей ввода/вывода, расширяющих возможности платформы NI Single-Board RIO. Эта платформа выполнена в виде печатной платы, оснащенной процессором реального времени, реконфигурируемой ПЛИС и встроенными каналами цифрового и аналогового ввода/вывод.
14.04.2009 | 4400
Сертификаты Государственного реестра средств измерений для модулей С-серии Компания National Instruments объявила, что 13 модулей C-серии для платформ NI CompactRIO, NI Compact DAQ и NI Wi-Fi DAQ получили сертификаты об утверждении типа средств измерений Госреестра СИ РФ. Благодаря наличию таких сертификатов российские компании могут быть уверены в точности и надежности измерительного оборудования NI и могут применять его в приложениях, требующих наличия сертификатов государственного реестра средств измерений.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.