![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 1961 - 1970 из 3296
20.08.2013 | 1988
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске нового пакета аналитического ПО для семейства анализаторов USB протокола U4611A, U4611B и U4612A. Пакет использует новую технологию MegaZoom, предлагая разработчикам быструю и простую оценку поведения устройств с интерфейсом USB, а также оптимальное тестирование на этапах производства и сертификации.
19.08.2013 | 2224
Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, усовершенствовала ряд своих решений для тестирования USB 3.0, включая первое в отрасли решение для тестирования передатчиков в соответствии со спецификациями SuperSpeedPlus 10 Гбит/с. Также добавлена новая функция декодирования данных USB 3.0 на основе осциллографа и расширенное решение для автоматизированного тестирования передатчиков SuperSpeed USB, повышающее производительность тестирования на 60 %.
18.08.2013 | 2925
Тепловизор VT02 Visual IR Thermometer сочетает удобство точечного термометра с преимуществом визуализации тепловизора – это создает совершенно новую категорию инструментов: камера для поиска неисправностей с ИК-термокартой.
17.08.2013 | 2486
«Международный авиационно-космический салон МАКС 2013» будет проходить с 27 августа по 1 сентября 2013 года по адресу: Московская область, г. Жуковский, ФГУП "ЛИИ им. М. М. Громова", Павильон № F3.
16.08.2013 | 1885
САПР IC-CAP позволяет моделировать полупроводниковые приборы
с током до 1500 A и напряжением до 10 кВ.
15.08.2013 | 3212
NI LabVIEW 2013 - новая версия популярной графической среды разработки, которую используют инженеры более 2500 компаний на территории России. Графическая среда разработки NI LabVIEW является ключевым компонентом программно-аппаратной платформы National Instruments, позволяющей эффективно сочетать различные подходы к программированию и объединять различные аппаратные платформы в единый комплекс.
14.08.2013 | 2431
Работая с ВЧ/СВЧ-анализаторами семейства “Master”, инженеры и техники теперь могут проводить необходимые измерения кабелей, расположенных на антенных мачтах, находясь внизу на земле, а также удаленно выполнять мониторинг радиочастотного спектра.
13.08.2013 | 2235
Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, объявила, что в следующем поколении её высокопроизводительных осциллографов реального времени будет использоваться элементная база, изготавливаемая с применением новейшего кремниево-германиевого (SiGe) технологического процесса 9HP, предложенного компанией IBM.
12.08.2013 | 1741
Компания Agilent Technologies проводит бесплатный симпозиум «Решения Agilent Technologies для тестирования современных беспроводных сетей», который состоится 5 сентября 2013 г. в Москве в Конгресс-центре МТУСИ.
11.08.2013 | 2041
Портативная система для измерения электромагнитных полей R&S®TS-EMF теперь поддерживает декодирование сетей LTE и WCDMA в сочетании с частотно-избирательными измерениями для анализаторов TSMW и FSH.
Новости 1961 - 1970 из 3296
|
События из истории измерений
|