![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 1751 - 1760 из 3296
01.05.2014 | 1778
Компания Аджилент Текнолоджиз представила мобильный спектрометр нового поколения, который идеально подходит для тестирования широкого спектра образцов, включая передовые материалы, произведения искусства, исторические объекты, камни, минералы, грунты, композитные и лакокрасочные материалы и полимеры.
30.04.2014 | 2109
Компания Anritsu выпускает опции анализа сетей TETRA и создания карт покрытия для своего портативного анализатора LMR Master™ S412E. Высочайшая в своем классе эффективность LMR Master, компактная и надежная конструкция и новые функции измерения и анализа сетей стандарта TETRA делают этот портативный анализатор наиболее функциональным решением, которое может применяться при развертывании, внедрении и обслуживании объектов общественной безопасности, транспортных и коммунальных сетей и критически важных коммуникационных сетей, включая сети, использующие технологию TETRA.
29.04.2014 | 1885
Компания Agilent Technologies Inc. представила осциллографы Infiniium серии Z, с помощью которых можно выполнять измерения одновременно по 40 синхронизированным каналам с максимальной полосой пропускания в режиме реального времени 63 ГГц (при объединении в систему до 10 осциллографов). Благодаря самому низкому в отрасли уровню собственных шумов и джиттера новые осциллографы обеспечивают высокую эффективность тестирования устройств, созданных на основе новейших технологий, и позволяют инженерам выйти на новые рубежи при разработке современного электронного оборудования.
28.04.2014 | 1806
На основании положительных результатов испытаний в целях утверждения типа векторные анализаторы цепей (ZNB20, ZNB40), анализаторы спектра (FSU67) и наборы мер коэффициентов передачи и отражения (ZV-Z229, ZV-Z218) производства компании Rohde & Schwarz внесены в Государственный реестр средств измерений.
27.04.2014 | 1570
Всемирно известный дом шампанского высшего качества Вдова Клико использует оснащенное измерительной аппаратурой и автоматизированное оборудование. Благодаря PcVue теперь они имеют удобную систему, которая контролирует брожение в 400 резервуарах ферментации.
26.04.2014 | 1997
ООО «Роде и Шварц РУС» разработало и внесло в Госреестр (№ Госреестра 56540-14) единичные экземпляры калибраторов амплитудной модуляции и девиации частоты SMBV-AM-FM. Калибраторы предназначены для воспроизведения и передачи размеров единиц коэффициента амплитудной модуляции и девиации частоты.
25.04.2014 | 1798
Для лабораторных дистанционно управляемых источников питания AKTAKOM APS-7313L, APS-7315L и APS-7612L выпущены базовые комплекты средств разработки программного обеспечения (Software Development Kit - SDK) APS-7313L SDK. Один SDK обеспечивает поддержку всех моделей – APS-7313L, APS-7315L и APS-7612L.
24.04.2014 | 2481
По результатам испытаний получены свидетельства об утверждении типа средств измерений (включены в Госреестр СИ РФ) на цифровые осциллографы-анализаторы спектра Tektronix серии MDO4000B. Уникальные осциллографы смешанных сигналов MDO4000 обеспечивают регистрацию аналоговых, цифровых и радиочастотных сигналов с корреляцией по времени.
Срок действия свидетельств об утверждении типа средства измерения до 04 марта 2019 года.
23.04.2014 | 1932
Компания Роде и Шварц выпустила новый сверхкомпактный радиосканер для проведения драйв-тестов и измерений - R&S TSME.
Радиосканер имеет высокую производительность, возможность проведения одновременных измерений GSM, WCDMA, LTE (FDD/TDD), CDMA, EV-DO, TD-SCDMA, WiMAX и TETRA во всех совместимых частотных диапазонах.
22.04.2014 | 1882
Тестер коэффициента битовых ошибок J-BERT M8020A обеспечивает более глубокий анализ характеристик высокоскоростных цифровых устройств.
Новости 1751 - 1760 из 3296
|
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"
|