|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новости компаний20.01.2012 | 2890
Серия анализаторов протоколов TPI4000 позволяет пользователям тестировать последовательные протоколы и пользоваться множеством функций, имея на руках один единственный прибор.
28.12.2011 | 3110
В этом году, 14 декабря, в Великобритании прошла церемония вручения наград победителям конкурса Elektra European Electronics Industry Awards 2011.
28.12.2011 | 2981
Первый в мире комбинированный осциллограф компании Tektronix в конкурсе Best in Test издания Test & Measurement World назван претендентом на звание Лучшей продукции года.
20.12.2011 | 2679
Самая широкая полоса пропускания, динамический диапазон и входные характеристики обеспечивают превосходство новых моделей пробников Tektronix. 30.11.2011 | 2578
Осциллографы серии THS3000 позволяют проводить измерения с новым уровнем точности для портативного прибора за счет частоты дискретизации до 5 Гвыб/с. 21.10.2011 | 2876
На основании положительных результатов испытаний сертификат об утверждении типа на генераторы сигналов сложной формы серии AFG3000 производства компании Tektronix продлён до 01 октября 2016 г.
28.09.2011 | 3161
Компания Tektronix выпустила новую версию системы для онлайн управления процессом калибровки CALWEB®. Основное обновление в новой версии коснулось интерфейса: добавлены графические панели для улучшения управления. Программное обеспечение бесплатно для зарегистрированных пользователей Tektronix.
31.08.2011 | 4014
Компания Tektronix представила первый в мире прибор с комбинированными областями анализа, сочетающий функции осциллографа и анализатора спектра с полной временной корреляцией аналоговых, цифровых и РЧ сигналов.
22.08.2011 | 2831
В середине августа в Портленде, штат Орегон, США начал свою работу TEKTRONIX WORLDWIDE SALES UNIVERSITY 2011. В этом году Университет проходит в Oregon Convention Center под девизом 65 летнего юбилея компании Тектроникс и собрало около 1000 участников.05.08.2011 | 2835
Объединение Optametra и Tektronix создает лучшие в своем классе возможности для анализа и производительности для развивающихся когерентных оптических стандартов.
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|