![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 2001 - 2010 из 3296
10.07.2013 | 2114
Компания Rohde & Schwarz увеличила частотный диапазон своего анализатора спектра и сигналов высшего класса R&S FSW до 50 ГГц. В сочетании с полосой анализа до 320 МГц новая СВЧ-модель будет идеальным выбором для проведения сложных измерений при выполнении научно-исследовательских работ и для применения в области радиолокации и спутниковой связи.
09.07.2013 | 1722
Компания Agilent Technologies Inc. представила прецизионный измеритель иммитанса (RLC-метр) E4980AL с тремя недорогими частотными опциями: 300 кГц, 500 кГц и 1 МГц. Три новые опции измерителя представляют собой модификации измерителя иммитанса Agilent E4980A, который в течение долгого времени являлся стандартом в отрасли, обеспечивая наилучшее соотношение цены и производительности и самый широкий выбор приложений среди базовых RLC-метров.
08.07.2013 | 1880
Расширился ассортимент настольных мультиметров эконом-класса Актаком. Вниманию представляется новая модель настольного мультиметра - Актаком АВМ-4085. АВМ-4085 предназначен для измерения постоянного и переменного напряжения, постоянного и переменного тока, сопротивления и частоты. Новый прибор может выполнять проверку p-n переходов диодов, прозвонку целостности цепей, а также способен выполнять статистические операции, имеет встроенный компаратор и снабжен USB портом для связи с ПК.
06.07.2013 | 2836
По результатам испытаний получены свидетельства об утверждении типа средств измерений (включены в Государственный Реестр средств измерений) на бесконтактные измерители температуры Fluke 62 MAX и 62 MAX+. Разработанные с учетом производственных нужд, инфракрасные термометры Fluke 62 MAX и 62 MAX+ выдерживают падение с высоты 3 м и имеют степень защиты IP54 для пыле- и водонепроницаемости. Fluke 62 MAX и 62 MAX+ имеют компактные размеры и обладают высочайшей точностью.
05.07.2013 | 1724
Компания Rohde & Schwarz анонсировала выпуск двух портовых векторных анализаторов цепей ZNB20 и ZNB40 с частотным диапазоном до 20 ГГц и 40 ГГц соответственно, а также скорый выпуск 4-х портовых версий векторных анализаторов цепей ZNB20и ZNB40. Данные приборы относятся к новому поколению векторных анализаторов цепей среднего класса.
04.07.2013 | 1762
Компания Agilent Technologies Inc. объявила об усовершенствовании модулей источников/измерителей (SMU) и программного обеспечения для своего анализатора Agilent B1500A — ведущего в отрасли параметрического анализатора полупроводниковых приборов.
02.07.2013 | 2046
Модельный ряд цифровых осциллографов Актаком пополнился двумя новыми моделями с глубиной записи 10 миллионов точек: ADS-2071M и ADS-2071MV.
01.07.2013 | 2525
Компания Fluke Networks представила свое новое семейство сертификационных тестеров кабелей Versiv™, предназначенных, чтобы помочь компаниям, устанавливающим кабели данных, более быстро, точно и рентабельно обеспечивать приемку медных и волоконно-оптических систем. Versiv является мощной платформой, предлагающей взаимозаменяемые модули для тестирования медных и волоконно-оптических линий и тестирования оптическим рефлектометром (OTDR), а также инновации программного обеспечения, тестирующего скорость, время и точность и упрощающего настройку тестирования, планирование и создание отчетов.
30.06.2013 | 1757
На конференции IEEE MTT IMS, проходящей со 2 по 7 июня в Сиэттле, компания Rohde&Schwarz представила новые опции для анализатора сигналов высшего класса R&S®FSW. R&S®FSW-K160R позволяет осуществлять анализ спектра в реальном времени с полосой 160МГц. 585 000 преобразований БПФ в секунду дают возможность со 100% вероятностью в пределах заданной погрешности по уровню перехватывать события с длительностью от 1,87мкс. Установка опции возможна на любом анализаторе R&S®FSW с установленной опцией R&S®FSW-B160 на частотах от 2 Гц до 50 ГГц.
29.06.2013 | 1534
Система предназначена для тестирования полупроводниковых микросхем, процессоров, ЦАП, АЦП, устройств в системе радио-идентификации, устройств поддерживающих технологии широкополосного вещания и беспроводных сетей, приемопередатчиков. Имеется возможность для проведения измерений, как в частотной, так и во временной области, спектрального анализа, измерения RF мощностей, потерь, и шумов.
Новости 2001 - 2010 из 3296
|
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"
|