![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 701 - 710 из 3296
16.05.2018 | 1233
С 21 по 24 мая в г. Остин (штат Техас, США) пройдет конференция NIWeek 2018, организованная компанией National Instruments. NIWeek – это уникальное место для встреч инженеров, обмена информацией и идеями, для получения представлений об инновационных технологиях, и продуктах NI.
15.05.2018 | 982
Компания Keysight Technologies проводит бесплатный семинар «Секреты векторного анализа цепей. Новейшие методики векторного анализа цепей и компонентов», который пройдет в Москве 17 мая 2018 г. в гостинице «Золотое кольцо».
Вести семинар будет Джоэль Дансмор, инженер-разработчик, на протяжении 35 лет работающий в компании Keysight Technologies. Джоэль Дансмор – автор книги, настоящего мирового бестселлера, «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей».
14.05.2018 | 898
Уже завтра, 15 мая, на ВДНХ в современном павильоне №75 состоится торжественное открытие 14-го Московского международного форума «Точные измерения – основа качества и безопасности», который проводится ежегодно и приурочен к Всемирному Дню метрологии – 20 мая.
Компания ЭЛИКС приглашает Вас посетить стенд B-53 на выставке MetrolExpo – одной из 6 выставок Форума.
11.05.2018 | 1177
Модельный ряд анемометров-регистраторов Актаком пополнился новой моделью!
Вашему вниманию представляется первый анемометр чашечного типа Актаком, поддерживающий запись на SD-карту в реальном масштабе времени АТЕ-1021. Благодаря применению датчика чашечного типа, АТЕ-1021 обеспечивает измерения даже при больших скоростях воздушного потока (до 35 м/с) независимо от направления движения воздушного потока. Кроме этого, прибор позволяет измерять температуру воздушного потока и температуру контактным способом, при помощи подключаемых термопар К и J-типа.
10.05.2018 | 1252
В рамках Всероссийского съезда метрологов и приборостроителей в период с 15 по 17 мая 2018 года на ВДНХ в павильоне №75 запланирована презентация книги «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей», автором которой является Джоэль П. Дансмор, Keysight Technologies.
09.05.2018 | 1206
Перспективы развития метрологии в XXI веке и переход на новую Систему сертификации МОЗМ обсуждались в Национальном метрологическом институте Австралии с участием представителей Международной организации законодательной метрологии.
07.05.2018 | 984
Очередная встреча клуба радиоинженеров Rohde & Schwarz пройдет 11 мая 2018 г. в г. Екатеринбург и будет посвящена теории и практике работы с цифровыми осциллографами.
04.05.2018 | 1571
Компания Tektronix, ведущий производитель прецизионного измерительного оборудования, представила новую модель цифрового мультиметра с сенсорным графическим дисплеем Keithley DMM6510. Новая модель приходит на смену самому популярному мультиметру Keithley 2000E. DMM6510 имеет 15 встроенных функций измерения, включая измерения низких сопротивлений и слабых токов, емкости и температуры. Прибор позволяет регистрировать переходные сигналы в режиме оцифровщика (дигитайзера) и выполнять многоканальное сканирование. Одновременное отображение результатов двух измерений могут отображаться на дисплее для более полного анализа данных испытаний
03.05.2018 | 1037
При диагностике электронного оборудования, различных вторичных источников электропитания при бесконтактном измерении малых токов не требуется большого размера магнитопровода. Для таких измерительных задач в группе токовых клещей-мультиметров Актаком можно выделить ряд приборов, имеющих небольшие габаритные размеры при хорошей функциональности.
02.05.2018 | 1030
Избрание руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) Алексея Абрамова в Бюро совета Международной электротехнической комиссии (МЭК) стало темой встречи главы Росстандарта с генеральным секретарем МЭК Франсом Врейсвиком в Женеве 10 апреля 2018 г.
Новости 701 - 710 из 3296
|
События из истории измерений
|