![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
17.08.2020 | 1001
Завтра, 18 августа, компания Rohde проводит онлайн-семинар, посвященный работе с анализатором цепей. Начало в 9:55 по Московскому времени.
10.08.2020 | 964
Компания Rohde & Schwarz приглашает принять участие в вебинаре, который состоится 11 августа с 10:00 по Московскому времени. В предстоящем вебинаре будут рассматриваться вопросы подготовки и проведения испытаний, а также комплексного оснащения, выбора оборудования и автоматизации лабораторий ЭМС.
03.08.2020 | 917
Компания Rohde & Schwarz сообщила о выпуске новинки – нового векторного генератора бюджетного уровня SMCV100B с частотным диапазоном от 4 кГц до 3/6/7,125 ГГц. Новый генератор является универсальной аппаратной платформой для получения тестовых сигналов практически всех стандартов для телерадиовещания, навигации, связи.
27.07.2020 | 962
Компания Rohde & Schwarz приглашает стать участником вебинара, который будет проведен уже завтра, 28 июля, на YouTube канале компании.
Время: 10:00 (по Москве).
20.07.2020 | 1026
Завтра, 21 июля с 10:00 по Московскому времени, компания Rohde & Schwarz приглашает принять участие в вебинаре. В программе: Уникальные особенности ZNA для измерений с преобразованием частоты; Общие принципы работы с преобразованием частоты и ограничения.
16.07.2020 | 1114
Компания Rohde&Schwarz сообщила о выпуске новой версии прошивки (v3.10) для анализаторов цепей следующих серий: R&S®ZND, R&S®ZNB и R&S®ZNBT. Новая версия ПО принесет существенные улучшения, новые функции и опции для анализаторов цепей среднего класса.
Теперь R&S®ZND, R&S®ZNB и R&S®ZNBT будут использовать одну и ту же прошивку с новым интерфейсом, схожим с анализатором цепей высшего класса R&S®ZNА.
06.07.2020 | 1005
Завтра, 7 июля с 10:00 по Московскому времени, компания Rohde & Schwarz проведен онлайн-семинар, посвященным осциллографическим пробникам компании. Будут освещены основные моменты, на которые стоит обратить внимание при выборе осциллографических пробников для ваших измерительных задач. Также будут рассмотрены основные типы пробников и даны рекомендации по их применению на примере портфолио осциллографических пробников Rohde & Schwarz.
29.06.2020 | 1016
Завтра, 30 июня с 10:00 по Московскому времени, пройдет онлайн-семинар компании Rohde & Schwarz. В рамках вебинара будут рассмотрены вопросы диагностики и измерения электромагнитных помех, как излучаемых, так и кондуктивных, на соответствие требованиям действующих стандартов по ЭМС. Будут обсуждаться возможности современных измерительных приемников, анализаторов спектра и выбор дополнительного оборудования.
26.06.2020 | 1061
Компанией Rohde & Schwarz была анонсирована новая серия источников питания R&S®NGP800, включающая в себя 5 моделей мощностью 400 Вт или 800 Вт. Каждый из двух или четырех 200-ваттных каналов способен выдавать напряжение до 64 В или ток до 20 А. Электрически эквивалентные и гальванически развязанные выходы могут быть подключены последовательно или параллельно для формирования напряжения до 250 В или тока до 80 А. Все источники питания имеют сенсорный дисплей, зажимы для четырехпроводного подключения и широкие возможности для дистанционного управления и синхронизации.
22.06.2020 | 1022
Компания Rohde & Schwarz приглашает принять участие в новом вебинаре. Вебинар пройдет завтра, 23 июня, начало в 10:00 по Москве. Тема вебинара – «Знакомство с основами работы в программном пакете Pulse Sequencer и создание радарных сигналов в соответствии с заданными требованиями» – и он будет полезен как начинающим специалистам, так и тем, кто уже имеет богатый опыт создания сигналов в различных программных средах.
|
События из истории измерений
|