EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

09.07.2013 | 1745
Компания Agilent Technologies представила измеритель иммитанса с тремя недорогими опциями Компания Agilent Technologies Inc. представила прецизионный измеритель иммитанса (RLC-метр) E4980AL с тремя недорогими частотными опциями: 300 кГц, 500 кГц и 1 МГц. Три новые опции измерителя представляют собой модификации измерителя иммитанса Agilent E4980A, который в течение долгого времени являлся стандартом в отрасли, обеспечивая наилучшее соотношение цены и производительности и самый широкий выбор приложений среди базовых RLC-метров.
04.07.2013 | 1787
Компания Agilent Technologies объявила о расширении возможностей лучшего в отрасли параметрического анализатора Компания Agilent Technologies Inc. объявила об усовершенствовании модулей источников/измерителей (SMU) и программного обеспечения для своего анализатора Agilent B1500A — ведущего в отрасли параметрического анализатора полупроводниковых приборов.
18.06.2013 | 2036
Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают на семинар по тестированию полупроводниковых устройств Компании Agilent Technologies, Cascade Microtech и Maury Microwaves приглашают Вас принять участие в 2х-дневном бесплатном семинаре «Комплексное тестирование полупроводниковых приборов по постоянному току и в СВЧ-диапазонах с помощью измерительного оборудования Agilent Technologies, зондовых станций Cascade Microtech и импедансных тюнеров Maury Microwave», который пройдет в Москве 26 и 27 июня 2013 г. В семинаре примет участие директор департамента параметрического тестирования компании Agilent Masaki Yamamoto.
14.06.2013 | 2196
Компания Agilent Technologies представляет новую платформу IC-CAP для измерения характеристик и создания библиотек моделей устройств Компания Agilent Technologies объявила о выпуске новой версии своей программной платформы для моделирования устройств IC-CAP. С выпуском САПР IC-CAP 2013.01 компания Agilent внесла существенные улучшения в свою основную платформу для моделирования высокочастотных устройств. Одним из ключевых улучшений является готовое решение для экстракции модели Angelov-GaN – стандартной компактной модели полупроводниковых приборов на основе нитрида галлия.
09.06.2013 | 3256
Последняя версия САПР Agilent Technologies SystemVue ускоряет проектирование MIMO РЛС и LTE-устройств Компания Agilent Technologies объявила о выпуске новейшей версии САПР SystemVue – своей передовой платформы для проектирования коммуникационных и оборонных систем. SystemVue 2013.01 предлагает поддержку новых приложений для системных инженеров и разработчиков, занятых моделированием систем цифровой обработки сигналов, а также инженеров, тестирующих MIMO РСЛ следующего поколения и LTE-устройств.
01.05.2013 | 2193
Компания Agilent Technologies представила настольный цифровой мультиметр, предназначенный для тестирования электронных блоков управления турбонагнетателей Agilent 34450A является самым быстродействующим в своем классе настольным цифровым мультиметром, способным выполнять измерения со скоростью до 190 изм./с с погрешностью 0,015 % по постоянному напряжению. Поддержка нескольких интерфейсов, включая USB 2.0, RS-232 и GPIB, предоставляет пользователям расширенные возможности переноса данных на ПК для анализа.
27.04.2013 | 2061
Компания Agilent Technologies представила самые быстродействующие термопарные измерители мощности с интерфейсом USB с лучшей линейностью и точностью Компания Agilent Technologies объявила о выпуске серии U8480 – самых быстродействующих термопарных USB-измерителей мощности. Использующие ту же схемотехнику входного сигнального тракта, что и серии Agilent 8480 и N8480, новые измерители U8480 обладают улучшенными характеристиками, включая скорость 400 измерений в секунду, что 10 раз быстрее предшествующих серий.
18.04.2013 | 1865
Компания Agilent Technologies представила осциллограф смешанных сигналов с наивысшими характеристиками Компания Agilent Technologies объявила о расширении семейства осциллографов Infiniium 90000 X, которое теперь включает осциллографы смешанных сигналов (MSO) с наивысшими характеристиками. Всего в серию Х добавлено шесть новых моделей MSO, а также модели DSO и DSA с полосой пропускания 13 ГГц.
11.04.2013 | 2152
Компания Agilent Technologies представила осциллографы высокого разрешения с самой широкой в своем классе полосой пропускания и самой большой глубиной памяти Компания Agilent Technologies представила осциллографы высокого разрешения серии Infiniium 9000 H. Четыре новые модели имеют верхнюю границу полосы пропускания 250 МГц, 500 МГц, 1 ГГц и 2 ГГц. Они обладают вертикальным разрешением до 12 разрядов, что дает в 16 раз больше уровней квантования, чем в традиционных осциллографах с разрешением 8 разрядов.
08.04.2013 | 1923
Компания Agilent Technologies представила высокочувствительные многопортовые измерители мощности оптических сигналов Компания Agilent Technologies представила новейшее пополнение своей обширной линейки измерителей оптической мощности. Двухканальный N7747A и четырехканальный N7748A объединяют лучшую в отрасли чувствительность модульного датчика 81634B и компактную многоканальную платформу N77 с расширенной памятью и увеличенной скоростью передачи данных.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
27.11.1701
день рождения
Андерс Цельсий
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.