![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости National Instruments
Новости компаний
15.02.2011 | 3649
Теперь инженеры могут программировать человеко-машинный интерфейс с помощью среды NI LabVIEW, что обеспечивает большую гибкость при разработке приложений.
31.01.2011 | 3487
Новый модуль NI PXIe-449x в формате PXI Express имеет AC/DC соединения для проведения различных типов измерений физических величин, что позволяет инженерам использовать один прибор для получения данных о звуке и вибрации.
04.01.2011 | 5184
Две новые модели позволили расширить линейку шасси, состоящую из более чем 20 видов на базе стандартов PXI и PXI Express. Инженеры смогут использовать шасси NI PXIe-1078 с девятью слотами и шасси NI PXIe-1071 с четырьмя слотами совместно как с последними модулями и контроллерами PXI Express, так и со всеми приборами в формате PXI, выпущенными ранее.
25.12.2010 | 3803
Компания National Instruments представила новую версию программного обеспечения Measurement Studio 2010 со встроенной поддержкой среды разработки Microsoft Visual Studio 2010 .NET.
20.12.2010 | 4263
Новая версия среды разработки NI LabWindows ™/CVI компании National Instruments позволяет ускорить разработку приложений тестирования для запуска в ОС Linux, системах реального времени и на ПЛИС.
04.12.2010 | 3321
3 декабря 2010 года, состоялся первый день научно-практической конференции «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2010». В этом году конференция проводится в девятый раз.
04.12.2010 | 3234
Последняя версия среды автоматизации испытаний обладает усовершенствованным анализатором очередей, инструментом сравнения и сращивания программ тестирования, а также улучшенной интеграцией с LabVIEW 2010.
28.10.2010 | 2822
Более 350 инженеров, преподавателей, профессоров, научных сотрудников и студентов со всей России, стран СНГ и Балтии соберутся 3-4 декабря 2010 года в Российском университете дружбы народов на конференции National Instruments, чтобы рассказать о своих решениях в промышленных, научных и образовательных приложениях.
22.10.2010 | 2907
Компания National Instruments представила набор библиотек для тестирования протокола беспроводной связи LTE, используемый совместно с радиочастотными векторными генераторами и анализаторами сигналов в формате PXI.
19.10.2010 | 3749
Компания National Instruments приглашает посетить свой стенд 1В8-5 на выставке Interpolitex, посвященной средствам обеспечения безопасности государства. Выставка проводится с 26 по 29 октября 2010 г. на ВВЦ (г. Москва), павильон 75.
|
События из истории измерений
|