![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости Keysight Technologies
Новости компаний
03.10.2016 | 1520
Компания Keysight Technologies (ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашает 12 октября 2016 на семинар, посвященный современным измерительным технологиям для решения различных прикладных задач.
29.09.2016 | 1778
Источники питания постоянного тока серии Keysight E36100 после проведения соответствующих технических испытаний включены в Госреестр СИ РФ за номером № 64742-16, приказ # 1079 от 12 августа 2016.
26.09.2016 | 1810
Компания Keysight Technologies 5 октября 2016 года проводит День открытых дверей в лаборатории Keysight Technologies, в рамках которого вы сможете познакомиться с измерительными решениями на базе осциллографов для тестирования в оборонной и аэрокосмической отраслях, разработки и отладки цифровых устройств и решения задач целостности сигналов.
20.09.2016 | 1437
Компания Keysight Technologies представила ПО проверки параметров и тестирования на соответствие стандарту передатчиков U7243B USB 3.1, которое обеспечивает самую полную поддержку для тестирования передатчиков для спецификации USB 3.1 Type-C. Это измерительное приложение позволяет разработчикам и авторизованным испытательным центрам тестировать интерфейсы USB 3.1 Gen2 SuperSpeed Plus 10 Гбит/с с разъёмом Type-C и предоставляет инженерам-испытателям средства для проверки соответствия устройств требованиям спецификаций USB 3.1 Gen2 Type-C.
14.09.2016 | 1380
Компания Keysight Technologies представила самое всеобъемлющее в отрасли программное обеспечение для тестирования электрических параметров 100-гигабитных четырёхканальных интерфейсов подключаемых устройств (CAUI-4) для сетевых приложений. ПО поддерживает стандарт IEEE 802.3bm, ориентированный на дальнейшее развитие оптических сетей и позволяющий создавать системы более высокой плотности.
06.09.2016 | 1882
Компания Keysight Technologies объявила о выпуске своего первого источника питания/измерителя M9111A в формате PXI, специально созданного для проверки и производственного тестирования усилителей мощности нового поколения, а также модулей и устройств для систем беспроводной связи.
02.09.2016 | 1516
Компания Keysight Technologies объявила о расширении спектра услуг калибровки, которые включают теперь калибровку приборов сторонних производителей, что соответствует намерениям компании поддерживать контрольно-измерительные системы в целом.
29.08.2016 | 1597
Компании Keysight Technologies и Cascade Microtech отмечают 25-летие совместной работы, направленной на решение сложнейших задач в сфере разработки и производства полупроводниковых приборов. Результатом этого сотрудничества стали многочисленные инновации в области проектирования и тестирования на уровне полупроводниковых пластин, которые помогают заказчикам ускорить продвижение изделий на рынок.
24.08.2016 | 1727
Компания Keysight Technologies представила высокоскоростной 12-разрядный дигитайзер/широкополосный цифровой приёмник M9203A в формате PXIe, имеющий частоту дискретизации до 3,2 Гвыб/с с мгновенной аналоговой полосой до 2 ГГц. Этот высокоскоростной дигитайзер идеально подходит для применения в беспроводной связи, мобильной связи новых стандартов, в радиолокации и спутниковой связи, а также для автоматизированного тестирования полупроводниковых приборов.
18.08.2016 | 1551
Компания Keysight Technologies и Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники (ТУСУР) в рамках XXI Международной научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых «Научная сессия ТУСУР» подписали договор о передаче ТУСУРу лицензий на программное обеспечение компании Keysight Technologies для использования в учебном процессе при подготовке инженеров в области СВЧ-технологий и информационно-коммуникационных систем.
|
События из истории измерений
|