![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Новости компаний
Новости 2751 - 2760 из 3296
06.08.2010 | 2821
Компании Softline и MathWorks приглашают вас принять участие в бесплатном веб-семинаре: "Анализ данных в MATLAB для пользователей Excel". Семинар пройдет 10 августа 2010 г., начало в 10-00 по московскому времени.
05.08.2010 | 2605
4 августа, в рамках конференции NIWeek 2010 нашему журналу дал интервью Виктор Мерес (Victor Mieres), Вице-президент по продажам в азиатском регионе компании National Instruments. В частности, он ответил на вопросы, касающиеся стратегии развития компании и продвижения продукции на российском рынке, развития направления устройств сбора данных формата PCI/PXI Express и разработки новых продуктов. Нам также удалось побеседовать с Брайаном Беттсом, старшим менеджером группы продукции по сбору данных (Brian Betts, Sr. Group Manager Data Acquisition).
05.08.2010 | 5629
Компания RIGOL выпустила два первых представителя семейства приборов для РЧ исследований. Анализаторы спектра серии DSA1000A и серии DSA1000 предоставят наиболее точное, эффективное и простое решение для РЧ тестирования, гибкость настройки, простоту и удобство получения необходимой информации.
04.08.2010 | 2499
Во вторник, 3 августа, состоялся первый день ведущей конференции и выставки по системам графического проектирования NIWeek 2010. Были представлены лучшие разработки National Instruments в этом году, среди них: векторный анализатор цепей на базе PXI, новая версия LabView и новая платформа сбора данных с интерфейсом Ethernet. Вечером, в банкетном зале отеля «Four Sesons» состоялось награждение лучших разработок на базе программного обеспечения NI.
03.08.2010 | 2357
Сегодня, 3 августа, тысячи наиболее выдающихся инженеров, ученых, изобретателей, преподавателей и студентов собираются в г.Остин (штат Техас, США) на NIWeek 2010 - ведущей конференции и выставке по системам графического проектирования.
03.08.2010 | 3239
Расширен ассортимент прецизионных лабораторных измерителей иммитанса (RLC-метров) АКТАКОМ. Новая модель АМ-3028 обладает широким диапазоном тестовых частот (до 1 МГц) и высокой точностью измерений - базовая погрешность составляет 0,05%.
02.08.2010 | 3084
Компания National Instruments объявила о выходе систем машинного зрения на базе ОС Windows с интерфейсом Camera Link. Новые системы NI EVS-1463 и EVS-1464 имеют встроенный жесткий диск, объемом 80 ГБ, достаточный для хранения видеоданных. Все вышеперечисленные системы дополняют модельный ряд встраиваемых систем машинного зрения компании National Instruments, включающий систему EVS-1464RT c интерфейсами камер GigE Vision и IEEE 1394b.
31.07.2010 | 3520
Компания Rohde & Schwarz представила новую версию прошивки для портативных анализаторов спектра FSH4/8. Новая версия позволяет активировать опцию спектрограмм (R&S FSH-K14 Spectrogram Measurement Application), т.е. наблюдать изменение спектра во времени.
30.07.2010 | 2889
Это стратегическое партнерство позволит ускорить разработку платформ для тестирования оборудования стандарта LTE. Компания Agilent уже создает средства автоматизированного проектирования и гибкие инструментальные решения для исследований, разработки и производства компонентов, оборудования базовых станций и мобильных устройств LTE.
29.07.2010 | 2628
Brother (компания по производству принтеров, этикетировочных и швейных машинок) разработала кинетический генератор электрической энергии, имеющий размер батареек типа АА или ААА, и спроектированный специально для применения с маломощными устройствами, такими как дистанционные устройства управления, для работы которых требуется 100 МВт энергии и менее.
Новости 2751 - 2760 из 3296
|
События из истории измерений
|