EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

20.08.2013 | 2006
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске аналитического ПО для анализаторов протокола USB Компания Agilent Technologies объявила о выпуске нового пакета аналитического ПО для семейства анализаторов USB протокола U4611A, U4611B и U4612A. Пакет использует новую технологию MegaZoom, предлагая разработчикам быструю и простую оценку поведения устройств с интерфейсом USB, а также оптимальное тестирование на этапах производства и сертификации.
19.08.2013 | 2248
Компания Tektronix выпустила первое в отрасли решение для тестирования новой шины SuperSpeed USB, работающей на скорости 10 Гбит/с Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, усовершенствовала ряд своих решений для тестирования USB 3.0, включая первое в отрасли решение для тестирования передатчиков в соответствии со спецификациями SuperSpeedPlus 10 Гбит/с. Также добавлена новая функция декодирования данных USB 3.0 на основе осциллографа и расширенное решение для автоматизированного тестирования передатчиков SuperSpeed USB, повышающее производительность тестирования на 60 %.
18.08.2013 | 2950
VT02 Визуальный ИК-термометр от компании Fluke Тепловизор VT02 Visual IR Thermometer сочетает удобство точечного термометра с преимуществом визуализации тепловизора – это создает совершенно новую категорию инструментов: камера для поиска неисправностей с ИК-термокартой.
17.08.2013 | 2506
Компания Rohde&Schwarz приглашает посетить свой стенд на «Международном авиационно-космическом салоне МАКС 2013» «Международный авиационно-космический салон МАКС 2013» будет проходить с 27 августа по 1 сентября 2013 года по адресу: Московская область, г. Жуковский, ФГУП "ЛИИ им. М. М. Громова", Павильон № F3.
16.08.2013 | 1904
Компания Agilent Technologies представила первое в отрасли решение для моделирования силовых полупроводниковых приборов САПР IC-CAP позволяет моделировать полупроводниковые приборы
с током до 1500 A и напряжением до 10 кВ.
15.08.2013 | 3254
Новая версия NI LabVIEW 2013 NI LabVIEW 2013 - новая версия популярной графической среды разработки, которую используют инженеры более 2500 компаний на территории России. Графическая среда разработки NI LabVIEW является ключевым компонентом программно-аппаратной платформы National Instruments, позволяющей эффективно сочетать различные подходы к программированию и объединять различные аппаратные платформы в единый комплекс.
14.08.2013 | 2453
Anritsu представляет возможность удаленного управления для своих передовых портативных измерительных приборов Работая с ВЧ/СВЧ-анализаторами семейства “Master”, инженеры и техники теперь могут проводить необходимые измерения кабелей, расположенных на антенных мачтах, находясь внизу на земле, а также удаленно выполнять мониторинг радиочастотного спектра.
13.08.2013 | 2259
Tektronix применяет технологию 9HP SiGe компании IBM в осциллографах с полосой пропускания 70 ГГц следующего поколения Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, объявила, что в следующем поколении её высокопроизводительных осциллографов реального времени будет использоваться элементная база, изготавливаемая с применением новейшего кремниево-германиевого (SiGe) технологического процесса 9HP, предложенного компанией IBM.
12.08.2013 | 1766
Компания Agilent Technologies проводит симпозиум «Решения Agilent Technologies для тестирования современных беспроводных сетей» Компания Agilent Technologies проводит бесплатный симпозиум «Решения Agilent Technologies для тестирования современных беспроводных сетей», который состоится 5 сентября 2013 г. в Москве в Конгресс-центре МТУСИ.
11.08.2013 | 2062
Новые возможности системы для измерения электромагнитных полей R&S®TS-EMF Портативная система для измерения электромагнитных полей R&S®TS-EMF теперь поддерживает декодирование сетей LTE и WCDMA в сочетании с частотно-избирательными измерениями для анализаторов TSMW и FSH.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.