EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

31.10.2012 | 1898
Компания Agilent Technologies объявила о выпуске решения для тестирования устройств беспроводной связи в условиях производства Компания Agilent Technologies представила решение для тестирования устройств беспроводной связи E6607B EXT и сопутствующий многопортовый адаптер E6617A. Сочетание этих приборов, оптимизированное на выполнение тестов без сигнализации, повышает производительность тестирования и сокращает затраты на производственные испытания современных и перспективных моделей смартфонов и планшетов, в которых применяются многостандартные и многодиапазонные радиомодули.
26.10.2012 | 2376
Компания Agilent Technologies представляет 14 моделей высокоточных, надёжных портативных анализаторов FieldFox, отвечающих требованиям стандартов Министерства обороны США Agilent Technologies Inc. объявила о выпуске 14 новых моделей портативных анализаторов FieldFox, обеспечивающих высокую точность измерений при испытаниях в полевых условиях. Анализаторы FieldFox способны работать в агрессивных условиях среды и труднодоступных местах, поэтому могут использоваться в областях спутниковой связи, СВЧ-ретрансляции, при тестировании коммуникаций военного назначения, радиолокационных систем, а также в других разнообразных сферах.
20.10.2012 | 2462
Новая версия САПР SystemVue компании Agilent Technologies ускоряет поверку беспроводных устройств на ранних этапах разработки Компания Agilent Technologies объявила о выпуске новой версии программного обеспечения SystemVue, основной платформы компании Agilent для проектирования коммуникационных систем.
Интеграция САПР с контрольно-измерительным оборудованием в процессе проектирования позволяет выполнять отладку одновременно в нескольких областях.
16.10.2012 | 2075
Компания Agilent Technologies расширила линейку приборов для тестирования беспроводных устройств, завершив приобретение компании AT4 Wireless Test Systems Компания Agilent Technologies объявила о том, что активы компании AT4 wireless Test Systems принадлежат c настоящего момента компании Agilent. Две компании объявили о заключении договора о приобретении.
Теперь продукцию AT4 Wireless Test Systems можно приобрести непосредственно у компании Agilent и у ее партнеров. Эта продукция включает лидирующие в отрасли решения для тестирования на соответствие стандартам и для исследований и разработок, связанных с технологиями LTE, Bluetooth® и NFC/RFID.
09.10.2012 | 2164
Компания Agilent Technologies представила самое полное в отрасли приложение для тестирования памяти DDR4 на соответствие стандарту Компания Agilent Technologies представила первое в отрасли приложение для тестирования систем, использующих память DDR4. Приложение Agilent N6462A для тестирования DDR4 помогает ускорить отладку и освоение производства систем DDR4, автоматизируя выполнение тестов физического уровня, включая новые измерения джиттера данных на осциллографах серии Agilent Infiniium 9000, 90000A, 90000 X и 90000 Q.
06.10.2012 | 2274
Компания Agilent Technologies представила первое, полностью интегрированное ПО для тестирования приемников PCI Express® 3.0 Компания Agilent Technologies объявила о выпуске первого в отрасли полностью интегрированного программного обеспечения для тестирования и калибровки приемников, а также тестирования передатчиков PCI Express® (PCIe®) 3.0. ПО предоставляет интегрированную среду для калибровки уровня и глазковой диаграммы принимаемого сигнала в максимально неблагоприятных условиях с помощью тестера битовых ошибок Agilent J-BERT, осциллографа Agilent 90000A, Q или X, генератора сигналов стандартной формы и импульсных сигналов Agilent и каналов для проверки калибровки Agilent PCI Express 3.0.
04.10.2012 | 2071
Сотрудничество Agilent Technologies с компанией Thales позволило применить технологию X-параметров в проектировании ВЧ систем Компания Agilent Technologies объявила о том, что ее постоянное сотрудничество с компанией Thales, глобальным технологическим лидером оборонного, аэрокосмического, гражданского транспортного рынков и рынка систем безопасности, позволило распространить применение технологии X-параметров на разработку широкополосных супергетеродинных приемников.
30.09.2012 | 2224
Компания Agilent Technologies представила самые быстродействующие в мире измерители мощности с шиной USB Agilent U2020 серии X Благодаря функциям измерения пиковой и средней мощности эти компактные высокопроизводительные измерители позволяют инженерам проводить тестирование устройств быстрее, с более высокой эффективностью и точностью.
29.09.2012 | 1959
Компания Agilent Technologies представила широкополосные принадлежности для повышения гибкости осциллографических пробников Компания Agilent Technologies представила недорогие полустационарные припаиваемые пробники для системы InfiniiMax III. Инженеры могут использовать эти принадлежности при проектировании высокоскоростных цифровых систем, для измерения характеристик компонентов и для измерений дифференциальных сигналов последовательных шин.
28.09.2012 | 1986
Компания Agilent Technologies представила активные дифференциальные пробники InfiniiMode с улучшенными потребительскими качествам Компания Agilent Technologies представила дифференциальные пробники InfiniiMode – новое поколение недорогих активных дифференциальных пробников общего назначения с диапазоном частот 1,5, 3,5 и 6 ГГц, предназначенное для работы с высокоскоростными дифференциальными сигналами. Они оптимизированы для использования в процессе проектирования цифровых систем, для измерения характеристик компонентов и выполнения дифференциальных измерений на последовательных шинах.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
24.11.1925
Родился нидерландский физик
Симон ван дер Мер
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.